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一种集成电路芯片测试系统
被引：0
专利类型：
实用新型
申请号：
CN201020232310.3
申请日：
2010-06-23
公开(公告)号：
CN201773169U
公开(公告)日：
2011-03-23
发明(设计)人：
刘华
张超
沈慧
申请人：
申请人地址：
300384 天津市南开区华苑产业园区海泰绿色产业基地M8座3门3层
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
天津盛理知识产权代理有限公司 12209
代理人：
王来佳
法律状态：
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-04-16 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101700034362 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2010202323103 变更事项:专利权人 变更前:天津渤海易安泰电子半导体测试有限公司 变更后:天津津能易安泰科技有限公司 变更事项:地址 变更前:300384 天津市南开区华苑产业园区海泰绿色产业基地M8座3门3层 变更后:300384 天津市华苑产业区物华道10号 |
| 2011-03-23 | 授权 | 授权 |
| 2020-07-17 | 专利权的终止 | 专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20100623 授权公告日:20110323 |