用于集成电路的芯片测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202120361101.7

申请日：

2021-02-09

公开(公告)号：

CN215263843U

公开(公告)日：

2021-12-21

发明(设计)人：

彭兴义

申请人：

申请人地址：

224015 江苏省盐城市盐都区张庄街道康庄大道双创园综合体1#厂房(G)

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司 32103

代理人：

王健

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-21	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路芯片测试系统 [P].

张悦 .

中国专利 :CN210665952U ,2020-06-02

[2]

一种应用于集成电路的芯片测试系统 [P].

杨桂英 .

中国专利 :CN111208412A ,2020-05-29

[3]

用于半导体集成电路封装的测试装置 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN214845617U ,2021-11-23

[4]

集成电路芯片测试座 [P].

唐中卫 .

中国专利 :CN200972480Y ,2007-11-07

[5]

集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN207798988U ,2018-08-31

[6]

一种集成电路芯片测试系统 [P].

刘华 ;

张超 ;

沈慧 .

中国专利 :CN201773169U ,2011-03-23

[7]

一种应用于集成电路的芯片测试系统 [P].

沈晓亮 ;

韩泉栋 ;

沈彩平 ;

吕笑天 ;

高兴龙 .

中国专利 :CN112213627A ,2021-01-12

[8]

一种应用于集成电路的芯片测试系统 [P].

杨桂英 .

中国专利 :CN110261760A ,2019-09-20

[9]

集成电路远程测试系统 [P].

魏建中 ;

罗雯 ;

王群勇 ;

蔡志刚 ;

吴琦 ;

焦慧芳 ;

陈冬梅 ;

王勇 ;

钟征宇 ;

唐锐 .

中国专利 :CN2826847Y ,2006-10-11

[10]

射频集成电路测试系统 [P].

袁练 .

中国专利 :CN212932865U ,2021-04-09

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