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一种应用于集成电路的芯片测试系统
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010161901.4
申请日：
2020-03-10
公开(公告)号：
CN111208412A
公开(公告)日：
2020-05-29
发明(设计)人：
杨桂英
申请人：
申请人地址：
311215 浙江省杭州市萧山区宁围镇新华村振宁路13号-3幢11
IPC主分类号：
G01R3128
IPC分类号：
代理机构：
代理人：
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2020-06-30 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20200310 |
| 2022-05-17 | 发明专利申请公布后的撤回 | 发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20200529 |
| 2020-05-29 | 公开 | 公开 |