光学检测器

被引：0

申请号：

CN202180037124.5

申请日：

2021-05-18

公开(公告)号：

CN115701287A

公开(公告)日：

2023-02-07

发明(设计)人：

谢文忠 A.沃克 D.甘佩尔 M.马斯科托 E.J.洛斯

申请人：

申请人地址：

奥地利普雷姆斯泰坦

IPC主分类号：

G01J344

IPC分类号：

G01J328 G01N2164 G01N2153 G01N2155 G01N2165

代理机构：

北京市柳沈律师事务所 11105

代理人：

邓亚楠

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-07	公开	公开

共 50 条

[1]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

H·亨根 .

中国专利 :CN107003785B ,2017-08-01

[2]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

H·沃内博格 .

中国专利 :CN105637320A ,2016-06-01

[3]

光学检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·瓦鲁施 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 ;

C·朗根施密德 .

中国专利 :CN107003120A ,2017-08-01

[4]

光学检测器 [P].

T·阿尔腾贝克 ;

H·贝克特尔 ;

R·赫 ;

F·迪特曼 ;

S·穆勒 ;

T·胡普福尔 ;

P·P·卡莱塔 ;

R·古斯特 ;

B·福伊尔施泰因 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

中国专利 :CN110770555A ,2020-02-07

[5]

光学检测器 [P].

清野光宏 ;

木村祯祐 ;

尾崎宪幸 ;

柳井谦一 ;

柏田真司 ;

水野文明 ;

恩田一寿 .

日本专利 :CN113281719B ,2025-07-01

[6]

光学检测器 [P].

S·B·罗博尔 ;

理查德·金塔尼利亚 .

中国专利 :CN111051984B ,2020-04-21

[7]

光学检测器 [P].

清野光宏 ;

柳井谦一 ;

木村祯祐 ;

尾崎宪幸 ;

柏田真司 ;

水野文明 ;

恩田一寿 .

中国专利 :CN113281781A ,2021-08-20

[8]

光学检测器 [P].

T·阿尔腾贝克 ;

H·贝克特尔 ;

R·赫 ;

F·迪特曼 ;

S·穆勒 ;

T·胡普福尔 ;

P·P·卡莱塔 ;

R·古斯特 ;

B·福伊尔施泰因 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

德国专利 :CN119958702A ,2025-05-09

[9]

光学检测器 [P].

清野光宏 ;

木村祯祐 ;

尾崎宪幸 ;

柳井谦一 ;

柏田真司 ;

水野文明 ;

恩田一寿 .

中国专利 :CN113281719A ,2021-08-20

[10]

光学检测器 [P].

S·瓦鲁施 ;

A·克莱恩 ;

S·穆勒 ;

W·赫尔梅斯 ;

R·森德 .

中国专利 :CN113396320A ,2021-09-14

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