一种芯片测试治具

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申请号
CN202220919168.2
申请日
2022-04-20
公开(公告)号
CN217360188U
公开(公告)日
2022-09-02
发明(设计)人
李静 蔡海燕 李琳琳
申请人
申请人地址
224000 江苏省盐城市大丰区高新技术区五一路1号启航未来智能终端产业园8号楼
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
G01R104
代理机构
江苏盐城世拓专利代理事务所(普通合伙) 32526
代理人
刘亚玲
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种芯片测试治具 [P]. 
夏俊杰 ;
林华胜 ;
顾红伟 .
中国专利 :CN223155049U ,2025-07-25
[2]
芯片测试治具 [P]. 
杨建 ;
刘志维 ;
汪迪 ;
张先俊 .
中国专利 :CN220752138U ,2024-04-09
[3]
一种芯片弹性测试治具 [P]. 
王如才 .
中国专利 :CN220525943U ,2024-02-23
[4]
一种芯片测试治具 [P]. 
刘强兵 ;
吕旭钢 .
中国专利 :CN216485358U ,2022-05-10
[5]
一种芯片测试治具 [P]. 
杜娟 .
中国专利 :CN210604707U ,2020-05-22
[6]
一种芯片测试治具 [P]. 
王焰华 .
中国专利 :CN209342764U ,2019-09-03
[7]
芯片测试治具 [P]. 
孙圣钦 .
中国专利 :CN209673621U ,2019-11-22
[8]
芯片测试治具 [P]. 
唐甘霖 .
中国专利 :CN213149029U ,2021-05-07
[9]
芯片测试治具 [P]. 
崔强 ;
许招辉 .
中国专利 :CN214895433U ,2021-11-26
[10]
芯片测试治具 [P]. 
何煦 .
中国专利 :CN201434875Y ,2010-03-31