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温度分布测定系统、温度分布测定装置以及温度分布测定方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201180073111.X
申请日
:
2011-08-31
公开(公告)号
:
CN103782144A
公开(公告)日
:
2014-05-07
发明(设计)人
:
笠嶋丈夫
宇野和史
石锅稔
只木恭子
武井文雄
申请人
:
申请人地址
:
日本神奈川县
IPC主分类号
:
G01K1112
IPC分类号
:
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
舒艳君;李洋
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-06-11
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101582738827 IPC(主分类):G01K 11/12 专利申请号:201180073111X 申请日:20110831
2014-05-07
公开
公开
2017-02-15
授权
授权
共 50 条
[1]
温度分布测定装置以及温度分布测定方法
[P].
笠嶋丈夫
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笠嶋丈夫
;
宇野和史
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宇野和史
;
石锅稔
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石锅稔
;
只木恭子
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只木恭子
;
武井文雄
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武井文雄
.
中国专利
:CN103733037B
,2014-04-16
[2]
温度测定系统以及温度测定方法
[P].
笠屿丈夫
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笠屿丈夫
;
宇野和史
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宇野和史
;
武井文雄
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武井文雄
.
中国专利
:CN102365536B
,2012-02-29
[3]
温度测定装置、温度测定系统和温度测定方法
[P].
小川润一
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小川润一
;
宫崎俊一
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宫崎俊一
.
中国专利
:CN112714863A
,2021-04-27
[4]
温度测定装置以及温度测定方法
[P].
清水兴子
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清水兴子
;
池田阳
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池田阳
.
中国专利
:CN105938020A
,2016-09-14
[5]
温度测定装置以及温度测定方法
[P].
滨野宽之
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滨野宽之
;
宫崎敬史
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宫崎敬史
.
中国专利
:CN110612436B
,2019-12-24
[6]
温度测定装置、温度测定方法以及温度衰减测定方法
[P].
圆山重直
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机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
圆山重直
;
冈部孝裕
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机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
冈部孝裕
;
井関祐也
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机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
井関祐也
;
野中崇
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世美特株式会社
世美特株式会社
野中崇
;
古川琢磨
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世美特株式会社
世美特株式会社
古川琢磨
;
细川靖
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世美特株式会社
世美特株式会社
细川靖
;
田畑裕太郎
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机构:
世美特株式会社
世美特株式会社
田畑裕太郎
;
松舘直史
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世美特株式会社
世美特株式会社
松舘直史
;
中岛利宪
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世美特株式会社
世美特株式会社
中岛利宪
;
东雅也
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世美特株式会社
世美特株式会社
东雅也
;
折戸学
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世美特株式会社
世美特株式会社
折戸学
.
日本专利
:CN115917273B
,2025-08-26
[7]
温度测定装置以及温度测定方法
[P].
熊谷芳宏
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机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
熊谷芳宏
;
手塚信一郎
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横河电机株式会社
横河电机株式会社
手塚信一郎
;
松浦聪
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横河电机株式会社
横河电机株式会社
松浦聪
;
斋藤和也
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机构:
横河电机株式会社
横河电机株式会社
斋藤和也
.
日本专利
:CN117367620A
,2024-01-09
[8]
粒径分布测定装置
[P].
黑住拓司
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黑住拓司
;
东川喜昭
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东川喜昭
.
中国专利
:CN101349631B
,2009-01-21
[9]
温度测定装置、温度测定方法、电池系统
[P].
古贺毅
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古贺毅
;
村濑将哉
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村濑将哉
.
中国专利
:CN115507968A
,2022-12-23
[10]
温度测定装置及温度测定方法
[P].
山本义典
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山本义典
;
坂部至
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坂部至
;
屉冈英资
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屉冈英资
.
中国专利
:CN100588923C
,2008-10-08
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