基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置

被引：0

申请号：

CN202211295397.2

申请日：

2022-10-21

公开(公告)号：

CN115688398A

公开(公告)日：

2023-02-03

发明(设计)人：

胡铭钰张新史广维刘铭鑫闫磊

申请人：

申请人地址：

130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号

IPC主分类号：

G06F3020

IPC分类号：

G06T1506 G06T1720

代理机构：

深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316

代理人：

孟洁

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2023-02-03	公开	公开

共 50 条

[1]

基于辐射传输模型的杂散辐射光线追迹方法及装置 [P].

胡铭钰 ;

张新 ;

史广维 ;

刘铭鑫 ;

闫磊 .

中国专利 :CN115688398B ,2024-12-17

[2]

辐射杂散测试设备和系统、辐射杂散测试方法 [P].

魏延全 ;

吴学文 ;

齐昊 ;

廖建明 ;

邓建坤 ;

罗彪 ;

彭静 .

中国专利 :CN111010242B ,2020-04-14

[3]

辐射杂散的检测方法和装置 [P].

杨少华 .

中国专利 :CN112910573B ,2021-06-04

[4]

辐射杂散自动测试方法及装置 [P].

李光华 ;

巫尚坤 .

中国专利 :CN106468741B ,2017-03-01

[5]

辐射杂散测试方法及装置、测试系统 [P].

周意保 .

中国专利 :CN110601773B ,2019-12-20

[6]

控制辐射杂散的方法及相关设备 [P].

杨怀 .

中国专利 :CN108322236B ,2018-07-24

[7]

控制辐射杂散的方法及相关设备 [P].

杨怀 .

中国专利 :CN108418592A ,2018-08-17

[8]

辐射杂散测试系统及测试方法 [P].

贾焕宇 .

中国专利 :CN113721083B ,2024-02-23

[9]

辐射杂散测试系统及测试方法 [P].

贾焕宇 .

中国专利 :CN113721083A ,2021-11-30

[10]

辐射杂散信号的对消方法和装置 [P].

唐戴平 ;

吴燕鸣 ;

王辉 ;

赵润泽 ;

张湘辉 .

中国专利 :CN111492589B ,2020-08-04

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