一种熔喷布缺陷检测方法及系统

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申请号
CN202210844319.7
申请日
2022-07-19
公开(公告)号
CN114913178A
公开(公告)日
2022-08-16
发明(设计)人
傅万里 傅蓓蕾 纪伊明
申请人
申请人地址
252000 山东省聊城市经济开发区东昌路南庐山路西
IPC主分类号
G06T700
IPC分类号
G06T500
代理机构
北京真致博文知识产权代理事务所(普通合伙) 11720
代理人
娄华
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种熔喷布检测系统及其检测方法 [P]. 
冯文华 .
中国专利 :CN113176190A ,2021-07-27
[2]
一种基于机器视觉的熔喷布缺陷区域检测方法 [P]. 
陈从平 ;
周正旺 ;
丁坤 ;
颜逸洲 ;
李少玉 ;
马超 ;
闫焕章 ;
张屹 ;
戴国洪 .
中国专利 :CN113554604B ,2024-02-02
[3]
一种基于机器视觉的熔喷布缺陷区域检测方法 [P]. 
陈从平 ;
周正旺 ;
丁坤 ;
颜逸洲 ;
李少玉 ;
马超 ;
闫焕章 ;
张屹 ;
戴国洪 .
中国专利 :CN113554604A ,2021-10-26
[4]
一种纤维布表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
李高杰 ;
李奥 .
中国专利 :CN120707511A ,2025-09-26
[5]
一种熔喷布喷丝模组、熔喷布模具及熔喷布制造方法 [P]. 
于宝财 ;
丁涛 ;
廖运华 ;
石志平 .
中国专利 :CN111676526A ,2020-09-18
[6]
一种工业缺陷检测方法及系统 [P]. 
沈卫明 ;
姜雨欣 ;
曹云康 .
中国专利 :CN116580014B ,2025-11-21
[7]
一种熔喷布生产设备及熔喷布生产工艺 [P]. 
张银滨 ;
米峰 .
中国专利 :CN113371500A ,2021-09-10
[8]
一种铜管生产缺陷检测方法及系统 [P]. 
白高锋 .
中国专利 :CN118037722A ,2024-05-14
[9]
一种芯片位置缺陷检测方法及系统 [P]. 
黄瑾烨 ;
蔡伟洋 ;
韦锦星 ;
孙婷 ;
胡海鹏 ;
李春莲 .
中国专利 :CN117745659A ,2024-03-22
[10]
一种芯片外观缺陷检测方法及系统 [P]. 
黄瑾烨 ;
蔡伟洋 ;
韦锦星 ;
孙婷 ;
胡海鹏 ;
李春莲 .
中国专利 :CN117745660A ,2024-03-22