芯片表面检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN02247521.4

申请日：

2002-08-20

公开(公告)号：

CN2563596Y

公开(公告)日：

2003-07-30

发明(设计)人：

杜拉达

申请人：

申请人地址：

台湾省台北市中山区天祥路59号7楼之一

IPC主分类号：

G02F113

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司

代理人：

朱黎光

法律状态：

专利权的终止(未缴年费专利权终止)

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2008-10-15	专利权的终止(未缴年费专利权终止)	专利权的终止(未缴年费专利权终止)
2003-07-30	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片表面检测装置 [P].

徐培明 ;

王伟 ;

陈杰 ;

曹海龙 ;

史玉香 .

中国专利 :CN221926163U ,2024-10-29

[2]

一种芯片表面检测装置及方法 [P].

吴少荣 ;

朱峰 ;

翁伊宁 .

中国专利 :CN114669488A ,2022-06-28

[3]

一种芯片表面检测装置 [P].

张奇 ;

商在兴 ;

刘红星 ;

梁坤 .

中国专利 :CN113218945A ,2021-08-06

[4]

一种芯片表面检测装置 [P].

殷泽安 ;

殷志鹏 .

中国专利 :CN210442278U ,2020-05-01

[5]

芯片表面清洁检测机构 [P].

冯文灿 ;

张华 .

中国专利 :CN210198989U ,2020-03-27

[6]

一种芯片表面曲线检测装置 [P].

郭伟 .

中国专利 :CN113759083A ,2021-12-07

[7]

一种芯片表面缺陷检测装置 [P].

韦虎 ;

倪化生 ;

黄炫 .

中国专利 :CN218098917U ,2022-12-20

[8]

一种芯片表面缺陷检测装置 [P].

陈容升 ;

王紫玉 ;

李欣 .

中国专利 :CN223526269U ,2025-11-07

[9]

一种芯片表面缺陷检测装置 [P].

曾省金 ;

杨惠雄 .

中国专利 :CN216696114U ,2022-06-07

[10]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

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