芯片表面检测装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202420269807.4

申请日：

2024-02-04

公开(公告)号：

CN221926163U

公开(公告)日：

2024-10-29

发明(设计)人：

徐培明王伟陈杰曹海龙史玉香

申请人：

山东万亿体育健康服务有限公司山东体育学院

申请人地址：

253600 山东省德州市乐陵市汇源北大街396号

IPC主分类号：

G01N21/95

IPC分类号：

G01N21/01 B07C5/342 B07C5/36 B07C5/02

代理机构：

济南尚本知识产权代理事务所(普通合伙) 37307

代理人：

牟京霞

法律状态：

授权

国省代码：

山东省德州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片表面缺陷检测装置 [P].

韦虎 ;

倪化生 ;

黄炫 .

中国专利 :CN218098917U ,2022-12-20

[2]

一种芯片表面检测装置 [P].

张奇 ;

商在兴 ;

刘红星 ;

梁坤 .

中国专利 :CN113218945A ,2021-08-06

[3]

一种芯片表面缺陷检测装置 [P].

曾省金 ;

杨惠雄 .

中国专利 :CN216696114U ,2022-06-07

[4]

芯片表面检测装置 [P].

杜拉达 .

中国专利 :CN2563596Y ,2003-07-30

[5]

一种多工位芯片表面检测装置 [P].

秦溢伟 .

中国专利 :CN223664535U ,2025-12-12

[6]

一种芯片表面缺陷检测装置 [P].

陈容升 ;

王紫玉 ;

李欣 .

中国专利 :CN223526269U ,2025-11-07

[7]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311A ,2024-06-25

[8]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN118245311B ,2024-08-20

[9]

芯片检测方法、芯片检测装置 [P].

吕智谋 ;

刘宁 ;

黄孟孟 .

中国专利 :CN117632606A ,2024-03-01

[10]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

周莉 ;

唐杰 ;

胡世棋 ;

杨陈浩 ;

顾志强 .

中国专利 :CN118735913B ,2024-11-15

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