一种芯片表面缺陷检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411205963.5

申请日：

2024-08-30

公开(公告)号：

CN118735913B

公开(公告)日：

2024-11-15

发明(设计)人：

周莉唐杰胡世棋杨陈浩顾志强

申请人：

江苏永鼎股份有限公司

申请人地址：

215200 江苏省苏州市吴江区汾湖高新区国道路1788号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/90 G06T5/20 G06T5/70 G06T5/90

代理机构：

苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙) 32257

代理人：

马小慧

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-10-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240830
2024-11-15	授权	授权
2024-10-01	公开	公开

共 50 条

[1]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

周莉 ;

唐杰 ;

胡世棋 ;

杨陈浩 ;

顾志强 .

中国专利 :CN118735913A ,2024-10-01

[2]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

苏子健 .

中国专利 :CN119919361A ,2025-05-02

[3]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

任鹏 ;

刘志恒 ;

曹雏清 ;

赵立军 .

中国专利 :CN117876313A ,2024-04-12

[4]

一种芯片表面缺陷视觉检测方法及系统 [P].

向德秋 ;

王胜玉 .

中国专利 :CN120746995A ,2025-10-03

[5]

一种芯片表面缺陷检测装置 [P].

韦虎 ;

倪化生 ;

黄炫 .

中国专利 :CN218098917U ,2022-12-20

[6]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

耿丽清 ;

朱心颖 ;

杨耿煌 .

中国专利 :CN119991558A ,2025-05-13

[7]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

李春啸 .

中国专利 :CN119477834A ,2025-02-18

[8]

芯片表面缺陷检测方法及设备 [P].

陈炳贵 .

中国专利 :CN117726627B ,2024-04-16

[9]

芯片表面缺陷检测方法及设备 [P].

陈炳贵 .

中国专利 :CN117726627A ,2024-03-19

[10]

一种基于图像处理的芯片质量检测系统及芯片表面缺陷检测方法 [P].

涂俊博 ;

柯书扬 ;

曾佳林 ;

彭丽洁 ;

谭昌骏 ;

刘晓宇 .

中国专利 :CN118464928A ,2024-08-09

← 1 2 3 4 5 →