一种芯片表面缺陷检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311868765.2

申请日：

2023-12-28

公开(公告)号：

CN117876313A

公开(公告)日：

2024-04-12

发明(设计)人：

任鹏刘志恒曹雏清赵立军

申请人：

长三角哈特机器人产业技术研究院

申请人地址：

241000 安徽省芜湖市鸠江区神州路17号国家工业机器人产品质量监督检验中心园区办公楼

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V20/60 G06V10/764 G06V10/26 G06V10/44 G06T7/136

代理机构：

芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107

代理人：

钟雪

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-12	公开	公开
2024-04-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20231228

共 50 条

[1]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

周莉 ;

唐杰 ;

胡世棋 ;

杨陈浩 ;

顾志强 .

中国专利 :CN118735913B ,2024-11-15

[2]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

周莉 ;

唐杰 ;

胡世棋 ;

杨陈浩 ;

顾志强 .

中国专利 :CN118735913A ,2024-10-01

[3]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

苏子健 .

中国专利 :CN119919361A ,2025-05-02

[4]

一种芯片表面缺陷视觉检测方法及系统 [P].

向德秋 ;

王胜玉 .

中国专利 :CN120746995A ,2025-10-03

[5]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

耿丽清 ;

朱心颖 ;

杨耿煌 .

中国专利 :CN119991558A ,2025-05-13

[6]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

李春啸 .

中国专利 :CN119477834A ,2025-02-18

[7]

一种光学芯片表面沾污缺陷检测方法及线激光视觉检测系统 [P].

舒淑保 ;

姜一平 .

中国专利 :CN111707614A ,2020-09-25

[8]

芯片表面缺陷检测方法及设备 [P].

陈炳贵 .

中国专利 :CN117726627B ,2024-04-16

[9]

芯片表面缺陷检测方法及设备 [P].

陈炳贵 .

中国专利 :CN117726627A ,2024-03-19

[10]

一种基于图像处理的芯片质量检测系统及芯片表面缺陷检测方法 [P].

涂俊博 ;

柯书扬 ;

曾佳林 ;

彭丽洁 ;

谭昌骏 ;

刘晓宇 .

中国专利 :CN118464928A ,2024-08-09

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