一种基于图像处理的芯片质量检测系统及芯片表面缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410505514.6

申请日：

2024-04-25

公开(公告)号：

CN118464928A

公开(公告)日：

2024-08-09

发明(设计)人：

涂俊博柯书扬曾佳林彭丽洁谭昌骏刘晓宇

申请人：

四川大学

申请人地址：

610000 四川省成都市武侯区一环路南一段24号四川大学望江校区

IPC主分类号：

G01N21/95

IPC分类号：

G01N21/88 G06V30/148 G06V30/164 G06V30/162 G06T7/00 G06T7/13 G06T5/40 G06T5/70 G06T5/90 G06T5/20

代理机构：

天津煜博知识产权代理事务所(普通合伙) 12246

代理人：

肖琳琳

法律状态：

公开

国省代码：

四川省成都市

引用

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共 50 条

[1]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

李春啸 .

中国专利 :CN119477834A ,2025-02-18

[2]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

周莉 ;

唐杰 ;

胡世棋 ;

杨陈浩 ;

顾志强 .

中国专利 :CN118735913B ,2024-11-15

[3]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

周莉 ;

唐杰 ;

胡世棋 ;

杨陈浩 ;

顾志强 .

中国专利 :CN118735913A ,2024-10-01

[4]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

任鹏 ;

刘志恒 ;

曹雏清 ;

赵立军 .

中国专利 :CN117876313A ,2024-04-12

[5]

一种芯片表面缺陷检测方法及系统 [P].

苏子健 .

中国专利 :CN119919361A ,2025-05-02

[6]

基于多模态图像融合的芯片表面缺陷检测方法 [P].

左黎伟 ;

龚创宁 ;

王琦 .

中国专利 :CN120831423A ,2025-10-24

[7]

芯片表面缺陷检测方法及设备 [P].

陈炳贵 .

中国专利 :CN117726627B ,2024-04-16

[8]

芯片表面缺陷检测方法及设备 [P].

陈炳贵 .

中国专利 :CN117726627A ,2024-03-19

[9]

一种基于光度立体视觉的芯片表面缺陷检测系统和方法 [P].

刘志平 ;

马琪聪 ;

李煜 .

中国专利 :CN118483237A ,2024-08-13

[10]

一种芯片表面缺陷检测方法 [P].

耿丽清 ;

朱心颖 ;

杨耿煌 .

中国专利 :CN119991558A ,2025-05-13

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-09	公开	公开
2024-08-27	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/95申请日:20240425