用于在半导体集成电路中产生时钟的装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201010000945.5

申请日：

2010-01-21

公开(公告)号：

CN101989857A

公开(公告)日：

2011-03-23

发明(设计)人：

尹元柱李铉雨金基汉

申请人：

申请人地址：

韩国京畿道

IPC主分类号：

H03L707

IPC分类号：

代理机构：

北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363

代理人：

郭放;黄启行

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-18	授权	授权
2012-08-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101314309701 IPC(主分类):H03L 7/07 专利申请号:2010100009455 申请日:20100121
2011-03-23	公开	公开
2018-03-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H03L 7/07 申请日:20100121 授权公告日:20150318 终止日期:20170121

共 50 条

[1]

半导体集成电路 [P].

古贺徹 ;

藤岡伸也 ;

森胜宏 .

中国专利 :CN1173402C ,2003-06-04

[2]

半导体集成电路 [P].

小西春男 ;

浜口正直 ;

宫城雅记 .

中国专利 :CN1145212C ,1997-05-21

[3]

半导体集成电路 [P].

木下雅章 .

中国专利 :CN1216389A ,1999-05-12

[4]

半导体集成电路 [P].

亀山敦 ;

布施常明 ;

吉田雅子 .

中国专利 :CN1162909C ,2001-10-31

[5]

半导体集成电路和包括半导体集成电路的半导体系统 [P].

高在范 ;

李锺天 ;

边相镇 .

中国专利 :CN102737703A ,2012-10-17

[6]

半导体集成电路和用于半导体集成电路的测试方法 [P].

前原仁一 .

中国专利 :CN101923897A ,2010-12-22

[7]

半导体集成电路以及用于制造半导体集成电路的方法 [P].

松田觉 ;

安田司 ;

松本市郎 .

中国专利 :CN102169865A ,2011-08-31

[8]

半导体集成电路装置及其半导体集成电路芯片 [P].

铃木敦 ;

大桥繁男 ;

西原淳夫 ;

森英明 .

中国专利 :CN1505136A ,2004-06-16

[9]

半导体集成电路装置、半导体集成电路装置的安装结构及半导体集成电路装置的制造方法 [P].

伊藤优辉 .

中国专利 :CN101681893A ,2010-03-24

[10]

半导体集成电路测试装置及半导体集成电路制造方法 [P].

森长也 ;

船仓辉彦 ;

花井寿佳 .

中国专利 :CN1525187A ,2004-09-01

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