集成电路失效率获取方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011591485.8

申请日：

2020-12-29

公开(公告)号：

CN112782558A

公开(公告)日：

2021-05-11

发明(设计)人：

章晓文林晓玲高汭

申请人：

申请人地址：

511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

郭凤杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-11	公开	公开
2021-05-28	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201229

共 50 条

[1]

混合集成电路失效率获取方法与系统 [P].

章晓文 ;

何小琦 ;

周振威 ;

肖庆中 .

中国专利 :CN106326609A ,2017-01-11

[2]

一种集成电路耦合失效SPICE仿真方法 [P].

吴振宇 ;

刘滨洋 ;

刘孟龙 ;

柴臻 ;

彭超群 .

中国专利 :CN117952052A ,2024-04-30

[3]

集成电路ESD失效预警电路 [P].

陈义强 ;

李昂 ;

雷登云 ;

恩云飞 ;

郝立超 ;

方文啸 ;

侯波 .

中国专利 :CN105954670A ,2016-09-21

[4]

集成电路、获取集成电路技术资料的方法 [P].

王汉哲 ;

谢冠宏 ;

钟新鸿 .

中国专利 :CN1945544A ,2007-04-11

[5]

新型集成电路失效分析检测方法 [P].

曹贝贝 .

中国专利 :CN112798931A ,2021-05-14

[6]

新型集成电路失效分析检测方法 [P].

龚羽 ;

沈春 ;

周耀 .

中国专利 :CN112735968A ,2021-04-30

[7]

集成电路芯片失效点定位方法 [P].

刘海岸 .

中国专利 :CN109342920A ,2019-02-15

[8]

新型集成电路失效分析检测方法 [P].

曹贝贝 .

中国专利 :CN112798931B ,2025-01-24

[9]

集成电路失效点的定位方法 [P].

倪毅强 ;

庞超 ;

杨施政 ;

陈选龙 ;

何亮 ;

张志鑫 ;

刘宇锋 .

中国专利 :CN115423753A ,2022-12-02

[10]

集成电路失效检测方法及装置 [P].

曲晨冰 ;

郑林挺 ;

恩云飞 ;

黄云 ;

路国光 ;

林晓玲 ;

王力纬 ;

黎恩良 ;

侯波 ;

雷登云 ;

孙宸 .

中国专利 :CN114594370A ,2022-06-07

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