集成电路芯片失效点定位方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201811154287.8
申请日
2018-09-30
公开(公告)号
CN109342920A
公开(公告)日
2019-02-15
发明(设计)人
刘海岸
申请人
申请人地址
201315 上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区康桥东路298号1幢1060室
IPC主分类号
G01R3128
IPC分类号
代理机构
上海浦一知识产权代理有限公司 31211
代理人
焦天雷
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
集成电路芯片失效分析样品的制备方法 [P]. 
金志明 .
中国专利 :CN105334084A ,2016-02-17
[2]
集成电路失效点的定位方法 [P]. 
倪毅强 ;
庞超 ;
杨施政 ;
陈选龙 ;
何亮 ;
张志鑫 ;
刘宇锋 .
中国专利 :CN115423753A ,2022-12-02
[3]
集成电路芯片和集成电路芯片防伪检测方法 [P]. 
谢小东 ;
杨祎 ;
任子木 .
中国专利 :CN106546908A ,2017-03-29
[4]
集成电路芯片和集成电路 [P]. 
曹旺 ;
陆健 ;
张敏 ;
高庆 .
中国专利 :CN210403720U ,2020-04-24
[5]
集成电路芯片的设计方法和集成电路芯片 [P]. 
不公告发明人 .
中国专利 :CN112861464B ,2021-05-28
[6]
集成电路芯片和集成电路 [P]. 
曹旺 ;
陆健 ;
张敏 ;
高庆 .
中国专利 :CN110534503A ,2019-12-03
[7]
集成电路芯片和集成电路芯片的制备方法 [P]. 
高滨 ;
马阿旺 ;
唐建石 ;
钱鹤 ;
吴华强 .
中国专利 :CN120264774A ,2025-07-04
[8]
集成电路芯片定位夹持装置 [P]. 
盛源泽 .
中国专利 :CN221583312U ,2024-08-23
[9]
集成电路芯片 [P]. 
吴承润 ;
江昱维 ;
赖昇志 .
中国专利 :CN114759035A ,2022-07-15
[10]
集成电路芯片 [P]. 
黄懋霖 ;
朱龙琨 ;
徐崇威 ;
余佳霓 ;
江国诚 ;
王志豪 .
中国专利 :CN112750823A ,2021-05-04