按键老化测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520274226.0

申请日：

2015-04-29

公开(公告)号：

CN204789922U

公开(公告)日：

2015-11-18

发明(设计)人：

吴作辉

申请人：

申请人地址：

201506 上海市金山区通业路218号3幢2层

IPC主分类号：

G01R31327

IPC分类号：

G01M1300

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-11-18	授权	授权
2021-04-09	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/327 申请日:20150429 授权公告日:20151118 终止日期:20200429
2016-01-06	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101726205824 IPC(主分类):G01R 31/327 专利号:ZL2015202742260 登记生效日:20151214 变更事项:专利权人变更前权利人:上海与德通讯技术有限公司变更后权利人:上海与德科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:201506 上海市金山区通业路218号3幢2层变更后权利人:201506 上海市金山区亭卫公路6558号4幢1309室

共 50 条

[1]

一种电器按键老化测试装置 [P].

张科卿 .

中国专利 :CN208125888U ,2018-11-20

[2]

老化测试装置、老化测试治板及老化测试机柜 [P].

苏涛 ;

李正 ;

王斌 ;

蒋汉柏 ;

郭敏 .

中国专利 :CN216209559U ,2022-04-05

[3]

老化测试装置 [P].

程灿 ;

姜震宇 ;

赵至捷 .

中国专利 :CN209992595U ,2020-01-24

[4]

老化测试装置 [P].

戴婷 ;

杨康 ;

赵志 ;

朱淇炜 ;

潘楼忠 ;

王新华 ;

李晓芬 .

中国专利 :CN220590816U ,2024-03-15

[5]

老化测试装置 [P].

刘付伟东 ;

仇和平 ;

黄志衡 ;

姚高亮 ;

杨联鑫 .

中国专利 :CN222482374U ,2025-02-14

[6]

老化测试装置 [P].

申健 ;

姚志宏 ;

朱洪伟 .

中国专利 :CN201289508Y ,2009-08-12

[7]

老化测试装置 [P].

祝占伟 ;

郭志诚 ;

翁水才 ;

谢周阳 .

中国专利 :CN215415510U ,2022-01-04

[8]

老化测试装置 [P].

黄建新 ;

聂春成 .

中国专利 :CN203881874U ,2014-10-15

[9]

老化测试装置 [P].

郭震撼 ;

潘彤 ;

王子翔 ;

刘云杰 ;

王申艳 .

中国专利 :CN220367376U ,2024-01-19

[10]

老化测试装置 [P].

黄炜胜 ;

李康海 ;

祁鹏鹏 .

中国专利 :CN222704685U ,2025-04-01

← 1 2 3 4 5 →