一种测量倒角尺寸的光学测量设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201520848153.1

申请日：

2015-10-29

公开(公告)号：

CN205156860U

公开(公告)日：

2016-04-13

发明(设计)人：

吴伟蔡敏明杜荣钦谢文胜高云峰

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区高新科技园北区新西路9号

IPC主分类号：

G01B1102

IPC分类号：

G01B1126 B07C510

代理机构：

北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340

代理人：

汪琳琳

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-04-13	授权	授权
2022-08-16	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01B 11/02 登记生效日:20220803 变更事项:专利权人变更前权利人:大族激光科技产业集团股份有限公司变更后权利人:深圳市大族半导体装备科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市南山区高新科技园北区新西路9号变更后权利人:518000 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区万延工业区第六栋101

共 50 条

[1]

倒角尺寸光学测量设备 [P].

刘建华 ;

杜荣钦 ;

胡田军 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203704861U ,2014-07-09

[2]

一种测量间隙、断差的光学测量设备 [P].

吴伟 ;

何柳 ;

邱国良 ;

王刚 ;

孙鹏 ;

范小卫 ;

杜荣钦 ;

高云峰 .

中国专利 :CN205037870U ,2016-02-17

[3]

倒角尺寸测量辅具 [P].

成钢 ;

肖玉斌 ;

阳仁奇 ;

赵飞 .

中国专利 :CN222849978U ,2025-05-09

[4]

用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备 [P].

王安阳 ;

江小亮 .

中国专利 :CN204269074U ,2015-04-15

[5]

测量内孔倒角尺寸的量具 [P].

夏汉关 ;

秦钧 ;

朱正斌 .

中国专利 :CN2835943Y ,2006-11-08

[6]

一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备 [P].

梁志吉 .

中国专利 :CN209085536U ,2019-07-09

[7]

一种光学测量系统及光学测量设备 [P].

宣海 ;

徐胜昌 .

中国专利 :CN210664337U ,2020-06-02

[8]

硅块倒角尺寸测量器 [P].

马帅 ;

王冲 ;

宋恩存 ;

黄凯 .

中国专利 :CN204240904U ,2015-04-01

[9]

一种新型测量外颈倒角尺寸的装置 [P].

朱进军 ;

刘奎丰 ;

李凤权 ;

敬德胜 ;

柴铁鈺 ;

赵洪岩 ;

付卫芳 ;

张松涛 ;

岳欣 .

中国专利 :CN206330515U ,2017-07-14

[10]

一种光学测量设备 [P].

钟凡 ;

郑增强 ;

欧昌东 ;

洪志坤 ;

陈凯 .

中国专利 :CN215931247U ,2022-03-01

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