一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201822012848.2

申请日：

2018-12-03

公开(公告)号：

CN209085536U

公开(公告)日：

2019-07-09

发明(设计)人：

梁志吉

申请人：

申请人地址：

341800 江西省赣州市全南县工业园二区

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

代理机构：

苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 32261

代理人：

刘倩

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-11-12	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20181203 授权公告日:20190709 终止日期:20201203
2019-07-09	授权	授权

共 50 条

[1]

用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备 [P].

王安阳 ;

江小亮 .

中国专利 :CN204269074U ,2015-04-15

[2]

一种非接触式光学测量设备 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

高云峰 .

中国专利 :CN207439359U ,2018-06-01

[3]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

张行 ;

赵思 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203657755U ,2014-06-18

[4]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

彭玮 ;

何柳 ;

赵思 ;

邱国良 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203518953U ,2014-04-02

[5]

恒温轴承套圈非接触式尺寸测量设备 [P].

张瑞 ;

邓家烜 ;

刘丙康 ;

赵明辉 ;

汤龙辉 .

中国专利 :CN223596796U ,2025-11-25

[6]

一种非接触式表面平面度光学测量设备 [P].

孙鹏 ;

郭明森 ;

蔡敏明 ;

杜荣钦 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206347976U ,2017-07-21

[7]

一种测量倒角尺寸的光学测量设备 [P].

吴伟 ;

蔡敏明 ;

杜荣钦 ;

谢文胜 ;

高云峰 .

中国专利 :CN205156860U ,2016-04-13

[8]

非接触式光学测量装置 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

赵志冰 ;

邱国良 ;

梁加强 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430698U ,2017-08-22

[9]

非接触式光学测量设备和可更换光学探头 [P].

S·A·博林 ;

B·莱玛克里斯南 ;

D·G·阿奎 ;

C·巴恩斯 .

中国专利 :CN114667432A ,2022-06-24

[10]

一种非接触式光学测量装置 [P].

阚晓婷 ;

黄帅 .

中国专利 :CN217058695U ,2022-07-26

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