非接触式光学测量设备和可更换光学探头

被引：0

申请号：

CN202080065715.9

申请日：

2020-09-18

公开(公告)号：

CN114667432A

公开(公告)日：

2022-06-24

发明(设计)人：

S·A·博林 B·莱玛克里斯南 D·G·阿奎 C·巴恩斯

申请人：

申请人地址：

美国俄勒冈州

IPC主分类号：

G01B1125

IPC分类号：

G01B7008 G01B5004 G01B5008 G01B1124 G01B2104

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司 11245

代理人：

徐东升

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-24	公开	公开
2022-10-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01B 11/25 申请日:20200918

共 50 条

[1]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

张行 ;

赵思 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203657755U ,2014-06-18

[2]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

彭玮 ;

何柳 ;

赵思 ;

邱国良 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203518953U ,2014-04-02

[3]

一种非接触式光学测量设备 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

高云峰 .

中国专利 :CN207439359U ,2018-06-01

[4]

光学探头和光学测量系统 [P].

许占堂 ;

曹文熙 .

中国专利 :CN108572147A ,2018-09-25

[5]

用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备 [P].

王安阳 ;

江小亮 .

中国专利 :CN204269074U ,2015-04-15

[6]

非接触式光学测量装置 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

赵志冰 ;

邱国良 ;

梁加强 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430698U ,2017-08-22

[7]

光学测量设备和方法 [P].

H·凯雷宁 .

加拿大专利 :CN120813810A ,2025-10-17

[8]

一种非接触式表面平面度光学测量设备 [P].

孙鹏 ;

郭明森 ;

蔡敏明 ;

杜荣钦 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206347976U ,2017-07-21

[9]

光学模块和包括其的光学测量设备 [P].

李晨 ;

李响 .

中国专利 :CN114235703A ,2022-03-25

[10]

光学模块和包括其的光学测量设备 [P].

李晨 ;

李响 .

中国专利 :CN218412229U ,2023-01-31

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