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光学测量设备和方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380094886.8
申请日
:
2023-06-22
公开(公告)号
:
CN120813810A
公开(公告)日
:
2025-10-17
发明(设计)人
:
H·凯雷宁
申请人
:
乐姆迈科技有限公司
申请人地址
:
加拿大
IPC主分类号
:
G01B11/02
IPC分类号
:
G01B11/24
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
周衡威
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-17
公开
公开
共 50 条
[1]
光距测量设备、光距测量方法以及光距测量设备的用途
[P].
H·凯雷宁
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
乐姆迈科技有限公司
乐姆迈科技有限公司
H·凯雷宁
.
加拿大专利
:CN120787304A
,2025-10-14
[2]
光学测量设备和方法
[P].
赖纳·温迪施
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司
艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司
赖纳·温迪施
.
德国专利
:CN117501150A
,2024-02-02
[3]
光学测量设备和方法
[P].
赖纳·温迪施
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司
艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司
赖纳·温迪施
.
德国专利
:CN120344877A
,2025-07-18
[4]
光学测量设备、光学测量方法及相关装置
[P].
李静娴
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
广州德擎光学科技有限公司
广州德擎光学科技有限公司
李静娴
;
白天翔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州德擎光学科技有限公司
广州德擎光学科技有限公司
白天翔
;
游德勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州德擎光学科技有限公司
广州德擎光学科技有限公司
游德勇
.
中国专利
:CN118032287B
,2025-02-18
[5]
光学测量设备、光学测量方法及相关装置
[P].
李静娴
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
广州德擎光学科技有限公司
广州德擎光学科技有限公司
李静娴
;
白天翔
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
广州德擎光学科技有限公司
广州德擎光学科技有限公司
白天翔
;
游德勇
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
广州德擎光学科技有限公司
广州德擎光学科技有限公司
游德勇
.
中国专利
:CN118032287A
,2024-05-14
[6]
光学模块和包括其的光学测量设备
[P].
李晨
论文数:
0
引用数:
0
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0
李晨
;
李响
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李响
.
中国专利
:CN114235703A
,2022-03-25
[7]
光学模块和包括其的光学测量设备
[P].
李晨
论文数:
0
引用数:
0
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0
李晨
;
李响
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李响
.
中国专利
:CN218412229U
,2023-01-31
[8]
光学测量设备的跟踪方法、装置和光学测量系统
[P].
陈尚俭
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
陈尚俭
;
王健宇
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
王健宇
;
王江峰
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
王江峰
;
郑俊
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
思看科技(杭州)股份有限公司
思看科技(杭州)股份有限公司
郑俊
.
中国专利
:CN117387485A
,2024-01-12
[9]
测量轴向长度的光学测量设备和方法
[P].
詹姆斯·雷诺兹
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
奥库蒂有限公司
奥库蒂有限公司
詹姆斯·雷诺兹
;
罗宾·泰勒
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
奥库蒂有限公司
奥库蒂有限公司
罗宾·泰勒
.
英国专利
:CN117396720A
,2024-01-12
[10]
光学测量方法以及光学测量设备
[P].
K·克莱恩
论文数:
0
引用数:
0
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K·克莱恩
;
P·弗里兹
论文数:
0
引用数:
0
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P·弗里兹
;
A·安达姆森
论文数:
0
引用数:
0
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0
A·安达姆森
.
中国专利
:CN112368543A
,2021-02-12
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