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光距测量设备、光距测量方法以及光距测量设备的用途
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202380094884.9
申请日
:
2023-06-22
公开(公告)号
:
CN120787304A
公开(公告)日
:
2025-10-14
发明(设计)人
:
H·凯雷宁
申请人
:
乐姆迈科技有限公司
申请人地址
:
加拿大
IPC主分类号
:
G01B11/02
IPC分类号
:
G01B11/24
代理机构
:
中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038
代理人
:
周衡威
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-10-14
公开
公开
共 50 条
[1]
光量测量设备和光量测量方法
[P].
兰宗树
论文数:
0
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兰宗树
;
田名纲健雄
论文数:
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田名纲健雄
.
中国专利
:CN1940511A
,2007-04-04
[2]
光测量装置、光测量方法
[P].
峰邑浩行
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0
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
峰邑浩行
;
安斋由美子
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机构:
株式会社日立高新技术
株式会社日立高新技术
安斋由美子
.
日本专利
:CN120187998A
,2025-06-20
[3]
光信号测量设备及其制造方法、以及光信号测量方法
[P].
邱华恭
论文数:
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
邱华恭
;
吴嘉宏
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
吴嘉宏
;
夏兴国
论文数:
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
夏兴国
;
余振华
论文数:
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
余振华
.
中国专利
:CN119382782A
,2025-01-28
[4]
色距测量装置、色距测量方法和程序
[P].
佐藤洋一郎
论文数:
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佐藤洋一郎
.
中国专利
:CN103310468A
,2013-09-18
[5]
光测量装置及光测量方法
[P].
畠堀贵秀
论文数:
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
畠堀贵秀
;
田窪健二
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机构:
株式会社岛津制作所
株式会社岛津制作所
田窪健二
.
日本专利
:CN120693513A
,2025-09-23
[6]
光测量方法、光测量装置、光测量程序以及存储光测量程序的存储介质
[P].
嶋瀬朗
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嶋瀬朗
;
堀田和宏
论文数:
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堀田和宏
.
中国专利
:CN111512169A
,2020-08-07
[7]
孔肩距测量结构及孔肩距测量方法
[P].
于欢
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于欢
;
盛波
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盛波
;
钟如钢
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钟如钢
;
常国政
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常国政
;
周红梅
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周红梅
;
黄志斌
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黄志斌
;
肖俊
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肖俊
.
中国专利
:CN105258601B
,2016-01-20
[8]
爪距测量装置及测量方法
[P].
曹懿
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机构:
上海第一机床厂有限公司
上海第一机床厂有限公司
曹懿
;
米大为
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机构:
上海第一机床厂有限公司
上海第一机床厂有限公司
米大为
;
李羿
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机构:
上海第一机床厂有限公司
上海第一机床厂有限公司
李羿
;
张宏杰
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机构:
上海第一机床厂有限公司
上海第一机床厂有限公司
张宏杰
;
李翔
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机构:
上海第一机床厂有限公司
上海第一机床厂有限公司
李翔
;
冒鹏
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机构:
上海第一机床厂有限公司
上海第一机床厂有限公司
冒鹏
;
吴伟建
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机构:
上海第一机床厂有限公司
上海第一机床厂有限公司
吴伟建
.
中国专利
:CN117387461A
,2024-01-12
[9]
绞合电缆的节距光测量装置
[P].
易少宾
论文数:
0
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0
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易少宾
.
中国专利
:CN204924185U
,2015-12-30
[10]
自动节距测量方法
[P].
赖春亿
论文数:
0
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赖春亿
.
中国专利
:CN101231162A
,2008-07-30
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