光学测量设备和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380085763.8

申请日：

2023-12-14

公开(公告)号：

CN120344877A

公开(公告)日：

2025-07-18

发明(设计)人：

赖纳·温迪施

申请人：

艾迈斯-欧司朗国际有限责任公司

申请人地址：

德国雷根斯堡

IPC主分类号：

G01S7/4914

IPC分类号：

G01S7/4915 G01S7/4912 G01S17/34 G01S17/42

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司 11240

代理人：

李海霞

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-05	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01S 7/4914申请日:20231214
2025-07-18	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量设备和方法 [P].

赖纳·温迪施 .

德国专利 :CN117501150A ,2024-02-02

[2]

光学测量设备和方法 [P].

H·凯雷宁 .

加拿大专利 :CN120813810A ,2025-10-17

[3]

光学测量设备及其方法 [P].

理查德·霍利 ;

罗宾·泰勒 .

中国专利 :CN101842046A ,2010-09-22

[4]

光学测量设备的跟踪方法、装置和光学测量系统 [P].

陈尚俭 ;

王健宇 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN117387485A ,2024-01-12

[5]

测量轴向长度的光学测量设备和方法 [P].

詹姆斯·雷诺兹 ;

罗宾·泰勒 .

英国专利 :CN117396720A ,2024-01-12

[6]

光学测量方法以及光学测量设备 [P].

K·克莱恩 ;

P·弗里兹 ;

A·安达姆森 .

中国专利 :CN112368543A ,2021-02-12

[7]

光学测量设备及光学测量方法 [P].

林校儀 ;

陈兆庆 ;

林宜学 .

中国专利 :CN118817076A ,2024-10-22

[8]

光学测量设备和扫描焦点的方法 [P].

詹姆斯·雷诺兹 ;

罗宾·泰勒 .

英国专利 :CN117396722A ,2024-01-12

[9]

光学调制器和光学测量设备 [P].

藤井康祐 .

中国专利 :CN112213897A ,2021-01-12

[10]

聚焦系统、聚焦方法和光学测量设备 [P].

李国光 ;

严晓浪 ;

马铁中 ;

艾迪格·基尼欧 ;

刘涛 .

中国专利 :CN102269859A ,2011-12-07

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