光学测量设备和扫描焦点的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202280038275.7

申请日：

2022-05-16

公开(公告)号：

CN117396722A

公开(公告)日：

2024-01-12

发明(设计)人：

詹姆斯·雷诺兹罗宾·泰勒

申请人：

奥库蒂有限公司

申请人地址：

英国伦敦

IPC主分类号：

G01B11/06

IPC分类号：

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

宋融冰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-01-12	公开	公开
2024-06-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20220516

共 50 条

[1]

光学测量设备的跟踪方法、装置和光学测量系统 [P].

陈尚俭 ;

王健宇 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN117387485A ,2024-01-12

[2]

光学测量设备和方法 [P].

H·凯雷宁 .

加拿大专利 :CN120813810A ,2025-10-17

[3]

光学测量设备和方法 [P].

赖纳·温迪施 .

德国专利 :CN117501150A ,2024-02-02

[4]

光学测量设备和方法 [P].

赖纳·温迪施 .

德国专利 :CN120344877A ,2025-07-18

[5]

测量轴向长度的光学测量设备和方法 [P].

詹姆斯·雷诺兹 ;

罗宾·泰勒 .

英国专利 :CN117396720A ,2024-01-12

[6]

光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

罗锐 ;

刘朋飞 ;

杜荣钦 ;

刘建华 ;

王刚 ;

高泽润 ;

范小卫 ;

郭明森 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN104534995B ,2015-04-22

[7]

光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置 [P].

J·耶斯凯莱伊宁 ;

H·萨罗 ;

V·吕拉 ;

T·劳塔迈基 .

中国专利 :CN109900637A ,2019-06-18

[8]

用于光学测量设备的偏转镜组件和相应的光学测量设备 [P].

H.贝哈 ;

P.霍瓦思 ;

T.舒勒 .

中国专利 :CN103154766A ,2013-06-12

[9]

光学模块和包括其的光学测量设备 [P].

李晨 ;

李响 .

中国专利 :CN114235703A ,2022-03-25

[10]

光学测量设备和用于测量工件翘曲的方法 [P].

王铭汉 ;

胡逸群 ;

施孟铠 ;

陈宣伃 .

中国专利 :CN111609804A ,2020-09-01

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