光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811486383.2

申请日：

2018-12-06

公开(公告)号：

CN109900637A

公开(公告)日：

2019-06-18

发明(设计)人：

J·耶斯凯莱伊宁 H·萨罗 V·吕拉 T·劳塔迈基

申请人：

申请人地址：

芬兰万塔

IPC主分类号：

G01N2101

IPC分类号：

G01N2141

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

陈斌

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-06-18	公开	公开
2021-07-30	授权	授权
2019-10-08	专利申请权、专利权的转移	专利申请权的转移 IPC(主分类):G01N 21/01 登记生效日:20190917 变更事项:申请人变更前权利人:詹尼斯柯有限公司变更后权利人:芬兰维萨拉有限责任公司变更事项:地址变更前权利人:芬兰万塔变更后权利人:芬兰赫尔辛基
2019-07-12	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/01 申请日:20181206

共 50 条

[1]

光学测量设备 [P].

清水光 ;

锹形武志 .

中国专利 :CN113884470A ,2022-01-04

[2]

光学测量设备 [P].

姜周延 ;

金起德 ;

金洸秀 ;

金郁来 ;

孙在锡 ;

李恩周 ;

黄淳弘 .

韩国专利 :CN119470263A ,2025-02-18

[3]

光学测量设备 [P].

B·奥芬贝克 ;

L·威利 .

中国专利 :CN104870978B ,2015-08-26

[4]

用于光学测量设备的偏转镜组件和相应的光学测量设备 [P].

H.贝哈 ;

P.霍瓦思 ;

T.舒勒 .

中国专利 :CN103154766A ,2013-06-12

[5]

光学测量设备的跟踪方法、装置和光学测量系统 [P].

陈尚俭 ;

王健宇 ;

王江峰 ;

郑俊 .

中国专利 :CN117387485A ,2024-01-12

[6]

光学测量布置 [P].

P.勒托恩 ;

C.霍母伦德 .

中国专利 :CN107407555A ,2017-11-28

[7]

光学测量设备 [P].

S·瓦德曼 .

中国专利 :CN101346620A ,2009-01-14

[8]

光学测量设备 [P].

南川义久 ;

武井英人 ;

末村悠祐 .

中国专利 :CN114518069A ,2022-05-20

[9]

光学测量设备和方法 [P].

H·凯雷宁 .

加拿大专利 :CN120813810A ,2025-10-17

[10]

光学测量设备 [P].

K·尼古拉斯 ;

W·乔纳森 ;

D·佛罗莱恩 .

中国专利 :CN306020710S ,2020-08-28

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