光学测量设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410927519.8

申请日：

2024-07-11

公开(公告)号：

CN119470263A

公开(公告)日：

2025-02-18

发明(设计)人：

姜周延金起德金洸秀金郁来孙在锡李恩周黄淳弘

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国京畿道水原市

IPC主分类号：

G01N21/01

IPC分类号：

G01N21/17 G01N21/3563 H01L21/67

代理机构：

北京铭硕知识产权代理有限公司 11286

代理人：

黄晓燕;张川绪

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-18	公开	公开

共 50 条

[1]

光学测量设备 [P].

法布瑞斯·卡拉米 .

中国专利 :CN102770737A ,2012-11-07

[2]

光学测量设备、折射计和用于光学测量的布置 [P].

J·耶斯凯莱伊宁 ;

H·萨罗 ;

V·吕拉 ;

T·劳塔迈基 .

中国专利 :CN109900637A ,2019-06-18

[3]

光学测量设备 [P].

S·瓦德曼 .

中国专利 :CN101346620A ,2009-01-14

[4]

光学测量设备 [P].

南川义久 ;

武井英人 ;

末村悠祐 .

中国专利 :CN114518069A ,2022-05-20

[5]

光学测量设备 [P].

S·沃德曼 .

中国专利 :CN101427125A ,2009-05-06

[6]

光学测量设备 [P].

今西慎悟 ;

新井健雄 ;

堂胁优 .

中国专利 :CN101726461A ,2010-06-09

[7]

光学测量设备 [P].

K·尼古拉斯 ;

W·乔纳森 ;

D·佛罗莱恩 .

中国专利 :CN306020710S ,2020-08-28

[8]

光学测量设备 [P].

迈克尔·库斯曼 ;

奥雷利亚·史戴尔马克 ;

马库斯·哈恩 ;

马库斯·雷哈德 ;

塞巴斯蒂安·明克 ;

安德里亚斯·约纳克 ;

沃尔克·巴尔 ;

海因茨·如德 .

中国专利 :CN109416317B ,2019-03-01

[9]

光学测量设备 [P].

叶华平 ;

贺金龙 ;

陈鲁 ;

张嵩 .

中国专利 :CN307232885S ,2022-04-05

[10]

光学测量设备 [P].

谢孟颖 ;

余威征 ;

何孝恒 ;

张谦成 ;

陈志升 ;

张玉清 .

中国专利 :CN101769721A ,2010-07-07

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