光学测量设备、光学测量方法及相关装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410167157.7

申请日：

2024-02-06

公开(公告)号：

CN118032287A

公开(公告)日：

2024-05-14

发明(设计)人：

李静娴白天翔游德勇

申请人：

广州德擎光学科技有限公司

申请人地址：

510000 广东省广州市海珠区沥滘路100号大院18号C201单元

IPC主分类号：

G01M11/02

IPC分类号：

B23K26/70 G02B27/28 G02B27/30 G01B11/02

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

陈倩倩

法律状态：

公开

国省代码：

广东省广州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-14	公开	公开
2024-05-31	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01M 11/02申请日:20240206
2025-02-18	授权	授权

共 50 条

[1]

光学测量设备、光学测量方法及相关装置 [P].

李静娴 ;

白天翔 ;

游德勇 .

中国专利 :CN118032287B ,2025-02-18

[2]

光学测量设备及光学测量方法 [P].

林校儀 ;

陈兆庆 ;

林宜学 .

中国专利 :CN118817076A ,2024-10-22

[3]

光学测量方法以及光学测量设备 [P].

K·克莱恩 ;

P·弗里兹 ;

A·安达姆森 .

中国专利 :CN112368543A ,2021-02-12

[4]

光学测量装置、光学测量系统及光学测量方法 [P].

张健 ;

臧笑妍 ;

孙建超 ;

庄源 .

中国专利 :CN120445042A ,2025-08-08

[5]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

高堉墐 ;

刘朝辉 ;

郑伊凯 ;

王世昌 ;

王大祥 .

中国专利 :CN103792190B ,2014-05-14

[6]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109163666A ,2019-01-08

[7]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

井上展幸 ;

田口都一 .

中国专利 :CN109405752B ,2019-03-01

[8]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN112639392B ,2021-04-09

[9]

光学测量方法及光学测量装置 [P].

松村淳一 ;

大久保宪治 .

中国专利 :CN1721841A ,2006-01-18

[10]

光学测量装置及光学测量方法 [P].

梶井阳介 ;

的场贤一 ;

近藤智则 .

中国专利 :CN110058249A ,2019-07-26

← 1 2 3 4 5 →