一种非接触式光学测量设备

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721266897.8

申请日：

2017-09-29

公开(公告)号：

CN207439359U

公开(公告)日：

2018-06-01

发明(设计)人：

方晓花谢强高云峰

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区高新科技园北区新西路9号

IPC主分类号：

G01B1106

IPC分类号：

代理机构：

深圳市世联合知识产权代理有限公司 44385

代理人：

林霞

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-08-16	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01B 11/06 登记生效日:20220803 变更事项:专利权人变更前权利人:大族激光科技产业集团股份有限公司变更后权利人:深圳市大族半导体装备科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市南山区高新科技园北区新西路9号变更后权利人:518000 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区万延工业区第六栋101
2018-06-01	授权	授权

共 50 条

[1]

一种非接触式表面平面度光学测量设备 [P].

孙鹏 ;

郭明森 ;

蔡敏明 ;

杜荣钦 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206347976U ,2017-07-21

[2]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

张行 ;

赵思 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203657755U ,2014-06-18

[3]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

彭玮 ;

何柳 ;

赵思 ;

邱国良 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203518953U ,2014-04-02

[4]

一种用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备 [P].

梁志吉 .

中国专利 :CN209085536U ,2019-07-09

[5]

用于测量磁头支架尺寸的非接触式光学测量设备 [P].

王安阳 ;

江小亮 .

中国专利 :CN204269074U ,2015-04-15

[6]

非接触式光学测量设备和可更换光学探头 [P].

S·A·博林 ;

B·莱玛克里斯南 ;

D·G·阿奎 ;

C·巴恩斯 .

中国专利 :CN114667432A ,2022-06-24

[7]

非接触式光学测量装置 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

赵志冰 ;

邱国良 ;

梁加强 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430698U ,2017-08-22

[8]

一种非接触式光学测量装置 [P].

阚晓婷 ;

黄帅 .

中国专利 :CN217058695U ,2022-07-26

[9]

非接触光学测量系统 [P].

小坂春男 .

中国专利 :CN201897466U ,2011-07-13

[10]

一种非接触式行程测量设备 [P].

杨绪祥 ;

文竞舟 ;

李友河 ;

陶琼 ;

姜男 ;

左融 ;

潘俊涛 ;

宁德飚 ;

耿元玲 ;

武刚 ;

王涵予 ;

赵成俊 .

中国专利 :CN223007733U ,2025-06-20

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