非接触光学测量系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020645122.3

申请日：

2010-12-07

公开(公告)号：

CN201897466U

公开(公告)日：

2011-07-13

发明(设计)人：

小坂春男

申请人：

申请人地址：

200082 上海市杨浦区辽阳路411号2F

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1114

代理机构：

上海精晟知识产权代理有限公司 31253

代理人：

马家骏

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-11-13	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 申请日:20101207 授权公告日:20110713 终止日期:20191207
2011-07-13	授权	授权

共 50 条

[1]

非接触式光学测量装置 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

杜荣钦 ;

赵志冰 ;

邱国良 ;

梁加强 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206430698U ,2017-08-22

[2]

一种非接触式光学测量装置 [P].

阚晓婷 ;

黄帅 .

中国专利 :CN217058695U ,2022-07-26

[3]

一种几何量的非接触光学测量装置 [P].

姚兴宇 ;

于佃清 ;

陈姗姗 ;

韩翘楚 .

中国专利 :CN214372269U ,2021-10-08

[4]

一种光学零件几何参数非接触光学测量装置 [P].

姚兴宇 ;

于佃清 ;

陈珊珊 ;

韩翘楚 .

中国专利 :CN220437341U ,2024-02-02

[5]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

张行 ;

赵思 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203657755U ,2014-06-18

[6]

非接触式间隙、断差光学测量设备 [P].

吴顺柏 ;

彭玮 ;

何柳 ;

赵思 ;

邱国良 ;

艾晓国 ;

仝敬烁 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN203518953U ,2014-04-02

[7]

一种非接触式光学测量设备 [P].

方晓花 ;

谢强 ;

高云峰 .

中国专利 :CN207439359U ,2018-06-01

[8]

一种非接触式表面平面度光学测量设备 [P].

孙鹏 ;

郭明森 ;

蔡敏明 ;

杜荣钦 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN206347976U ,2017-07-21

[9]

一种光学照明系统及非接触式测量装置 [P].

蔡春迎 .

中国专利 :CN201757320U ,2011-03-09

[10]

非接触式测量系统 [P].

宋秋构 .

中国专利 :CN205719380U ,2016-11-23

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