残余应力测定装置

被引：0

专利类型：

外观设计

申请号：

CN201630249806.4

申请日：

2016-06-16

公开(公告)号：

CN303928255S

公开(公告)日：

2016-11-23

发明(设计)人：

岩田恭一神山拓哉

申请人：

申请人地址：

日本爱知县

IPC主分类号：

1005

IPC分类号：

代理机构：

北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277

代理人：

刘新宇;张会华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-11-23	授权	授权

共 50 条

[1]

残余应力测定装置 [P].

岩田恭一 ;

神山拓哉 .

中国专利 :CN303861942S ,2016-09-21

[2]

残余应力测定装置 [P].

岩田恭一 ;

神山拓哉 .

中国专利 :CN303861940S ,2016-09-21

[3]

残余应力测定装置以及残余应力测定方法 [P].

小林祐次 ;

松井彰则 .

中国专利 :CN107923857A ,2018-04-17

[4]

中子衍射残余应力测定装置与方法 [P].

陈东风 ;

刘蕴韬 ;

李峻宏 ;

李际周 ;

高建波 ;

韩松柏 ;

李天富 ;

焦学胜 ;

李眉娟 ;

王洪立 ;

孙凯 ;

肖红文 ;

祖勇 ;

刘荣灯 ;

武梅梅 ;

余周香 ;

梁峰 ;

张莉 ;

胡瑞 ;

刘晓龙 ;

韩文泽 ;

吴立齐 ;

陈娜 ;

孙硕 .

中国专利 :CN102435623A ,2012-05-02

[5]

X射线残余应力测定装置和方法 [P].

周上祺 ;

任勤 ;

郑林 .

中国专利 :CN1049496C ,1997-10-15

[6]

一种涂层内部残余应力的测定装置 [P].

李恒 .

中国专利 :CN212059203U ,2020-12-01

[7]

一种涂层内部残余应力的测定装置 [P].

李恒 .

中国专利 :CN113758620A ,2021-12-07

[8]

一种X射线晶体取向以及残余应力测定装置 [P].

宫声凯 ;

尚勇 ;

裴延玲 ;

李树索 .

中国专利 :CN108195859A ,2018-06-22

[9]

应力测定方法及应力测定装置 [P].

居塞佩·佩曹蒂 .

中国专利 :CN1300558C ,2005-07-20

[10]

残余应力推定方法及残余应力推定装置 [P].

冲田圭介 ;

中川知和 ;

山田真理子 .

中国专利 :CN107407605A ,2017-11-28

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