一种X射线晶体取向以及残余应力测定装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711386224.0

申请日：

2017-12-20

公开(公告)号：

CN108195859A

公开(公告)日：

2018-06-22

发明(设计)人：

宫声凯尚勇裴延玲李树索

申请人：

申请人地址：

100000 北京市海淀区学院路37号

IPC主分类号：

G01N23207

IPC分类号：

代理机构：

北京高沃律师事务所 11569

代理人：

王戈

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-08-28	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N 23/207 申请公布日:20180622
2018-06-22	公开	公开
2018-07-17	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 23/207 申请日:20171220

共 50 条

[1]

X射线残余应力测定装置和方法 [P].

周上祺 ;

任勤 ;

郑林 .

中国专利 :CN1049496C ,1997-10-15

[2]

残余应力测定装置以及残余应力测定方法 [P].

小林祐次 ;

松井彰则 .

中国专利 :CN107923857A ,2018-04-17

[3]

残余应力测定装置 [P].

岩田恭一 ;

神山拓哉 .

中国专利 :CN303928255S ,2016-11-23

[4]

残余应力测定装置 [P].

岩田恭一 ;

神山拓哉 .

中国专利 :CN303861942S ,2016-09-21

[5]

残余应力测定装置 [P].

岩田恭一 ;

神山拓哉 .

中国专利 :CN303861940S ,2016-09-21

[6]

X射线测定装置以及系统 [P].

今野翔太 ;

畑山雄二 ;

佐佐木珉贞 .

中国专利 :CN112611771A ,2021-04-06

[7]

用X射线测定钢残余应力的方法 [P].

陈玉安 ;

李德成 ;

程绩 ;

胡玲 ;

周飞旭 .

中国专利 :CN101451965B ,2009-06-10

[8]

一种涂层内部残余应力的测定装置 [P].

李恒 .

中国专利 :CN212059203U ,2020-12-01

[9]

一种涂层内部残余应力的测定装置 [P].

李恒 .

中国专利 :CN113758620A ,2021-12-07

[10]

X射线测定装置 [P].

实政光久 ;

宫本高敬 ;

足立龙太郎 ;

川上嘉人 .

中国专利 :CN106798565B ,2017-06-06

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