X射线测定装置以及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011029075.4

申请日：

2020-09-25

公开(公告)号：

CN112611771A

公开(公告)日：

2021-04-06

发明(设计)人：

今野翔太畑山雄二佐佐木珉贞

申请人：

申请人地址：

日本国东京都

IPC主分类号：

G01N2320008

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

王晖

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-06	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线测定装置 [P].

实政光久 ;

宫本高敬 ;

足立龙太郎 ;

川上嘉人 .

中国专利 :CN106798565B ,2017-06-06

[2]

X射线测定装置 [P].

实政光久 ;

宫本高敬 ;

足立龙太郎 ;

桥元惇 .

中国专利 :CN106798566A ,2017-06-06

[3]

医疗用X射线测定装置 [P].

宫本高敬 ;

岸水悠介 ;

足立龙太郎 ;

桥元惇 ;

菊川昂树 .

日本专利 :CN120643241A ,2025-09-16

[4]

荧光X射线分析的测定方法以及荧光X射线分析的测定装置 [P].

石丸真次 .

中国专利 :CN110998300B ,2020-04-10

[5]

X射线衍射测定装置及方法 [P].

桑原润史 ;

佐藤健児 ;

玉井敦 .

中国专利 :CN115144422A ,2022-10-04

[6]

测定装置以及测定系统 [P].

绪方大树 ;

仓持美惠 .

中国专利 :CN113331786A ,2021-09-03

[7]

测定装置以及测定系统 [P].

绪方大树 ;

仓持美惠 .

日本专利 :CN113331786B ,2025-02-25

[8]

测定装置以及测定系统 [P].

高木纯 ;

栗原洁 ;

高桥智纪 .

中国专利 :CN115334958A ,2022-11-11

[9]

测定装置以及测定系统 [P].

御供田理沙 ;

兼田悠 .

中国专利 :CN110596206A ,2019-12-20

[10]

测定装置以及测定系统 [P].

福田一生 ;

中西弘幸 ;

畑仁 .

中国专利 :CN103356200B ,2013-10-23

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