测定装置以及测定系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011637577.5

申请日：

2020-12-31

公开(公告)号：

CN113331786B

公开(公告)日：

2025-02-25

发明(设计)人：

绪方大树仓持美惠

申请人：

株式会社村田制作所

申请人地址：

日本京都府

IPC主分类号：

A61B5/00

IPC分类号：

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

舒艳君;王海奇

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-25	授权	授权

共 50 条

[1]

测定装置以及测定系统 [P].

绪方大树 ;

仓持美惠 .

中国专利 :CN113331786A ,2021-09-03

[2]

测定装置以及测定系统 [P].

高木纯 ;

栗原洁 ;

高桥智纪 .

中国专利 :CN115334958A ,2022-11-11

[3]

测定装置以及测定系统 [P].

御供田理沙 ;

兼田悠 .

中国专利 :CN110596206A ,2019-12-20

[4]

测定系统、测定装置、测定方法以及程序 [P].

长冈英一 ;

胜田敏広 .

中国专利 :CN113227719A ,2021-08-06

[5]

测定系统、测定装置、测定方法以及程序 [P].

长冈英一 ;

胜田敏広 .

日本专利 :CN113227719B ,2024-09-24

[6]

测定装置以及测定系统 [P].

福田一生 ;

中西弘幸 ;

畑仁 .

中国专利 :CN103356200B ,2013-10-23

[7]

医疗用测定装置以及医疗用测定系统 [P].

寺岛则善 ;

滩冈正刚 ;

小田祥正 .

中国专利 :CN103997952A ,2014-08-20

[8]

测定装置、测定系统以及测定方法 [P].

长井秀行 .

日本专利 :CN118103715A ,2024-05-28

[9]

测定方法、测定装置以及测定系统 [P].

村上健二 ;

伊藤直树 .

日本专利 :CN118818148A ,2024-10-22

[10]

位置测定装置、位置测定系统以及测定装置 [P].

佐藤真路 .

日本专利 :CN117836588A ,2024-04-05

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