测定系统、测定装置、测定方法以及程序

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201980085796.6
申请日
2019-08-02
公开(公告)号
CN113227719B
公开(公告)日
2024-09-24
发明(设计)人
长冈英一 胜田敏広
申请人
株式会社堀场制作所
申请人地址
日本京都府
IPC主分类号
G01D7/08
IPC分类号
G01J5/48
代理机构
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人
崔迎宾;李雪春
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
测定系统、测定装置、测定方法以及程序 [P]. 
长冈英一 ;
胜田敏広 .
中国专利 :CN113227719A ,2021-08-06
[2]
测定装置、测定系统、测定方法以及程序 [P]. 
户田启介 ;
松永翔吾 .
中国专利 :CN114585302A ,2022-06-03
[3]
测定装置、测定系统、测定方法以及程序 [P]. 
松永翔吾 ;
户田启介 ;
伊藤广繁 ;
堀之内直树 .
中国专利 :CN113597536A ,2021-11-02
[4]
测定装置、测定系统以及程序 [P]. 
谷川彰 ;
森山裕之 ;
片冈浩一 .
日本专利 :CN119535304A ,2025-02-28
[5]
测定装置以及测定系统 [P]. 
绪方大树 ;
仓持美惠 .
中国专利 :CN113331786A ,2021-09-03
[6]
测定装置、测定方法、以及测定程序 [P]. 
平野朝士 ;
樋口刚司 .
中国专利 :CN112261901A ,2021-01-22
[7]
测定装置以及测定系统 [P]. 
高木纯 ;
栗原洁 ;
高桥智纪 .
中国专利 :CN115334958A ,2022-11-11
[8]
测定装置以及测定系统 [P]. 
绪方大树 ;
仓持美惠 .
日本专利 :CN113331786B ,2025-02-25
[9]
测定装置以及测定系统 [P]. 
御供田理沙 ;
兼田悠 .
中国专利 :CN110596206A ,2019-12-20
[10]
测定装置、测定系统以及测定方法 [P]. 
长井秀行 .
日本专利 :CN118103715A ,2024-05-28