器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110988238.X

申请日：

2021-08-26

公开(公告)号：

CN113740693A

公开(公告)日：

2021-12-03

发明(设计)人：

梁赛嫦吴佳蒙郭依腾曾丹

申请人：

申请人地址：

519015 广东省珠海市香洲区吉大景山路莲山巷8号1001室

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

B07C5344 B07C536

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

曾军;吴雪

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-12-21	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20210826
2021-12-03	公开	公开

共 50 条

[1]

性能测试方法和装置、电子设备和存储介质 [P].

李博 .

中国专利 :CN120144437A ,2025-06-13

[2]

性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

李平山 ;

张建国 ;

张东锋 ;

舒敏 .

中国专利 :CN109343092B ,2019-02-15

[3]

性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

金玉玮 .

中国专利 :CN117743111A ,2024-03-22

[4]

性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

董小瑞 ;

宋立辉 .

中国专利 :CN114924940B ,2025-11-11

[5]

性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

董小瑞 ;

宋立辉 .

中国专利 :CN114924940A ,2022-08-19

[6]

通信性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

王天 ;

宿秀元 ;

霍天翔 ;

丁利 ;

吕佳奇 ;

张松盛 ;

赵云 ;

聂宇威 ;

赵鹏 ;

王志平 .

中国专利 :CN118158128A ,2024-06-07

[7]

硬盘性能测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

张权 .

中国专利 :CN117687850A ,2024-03-12

[8]

性能测试方法和装置、存储介质及电子设备 [P].

黄武军 .

中国专利 :CN119806976A ,2025-04-11

[9]

性能测试方法及其装置、电子设备及存储介质 [P].

黄俊文 ;

谢林洁 ;

杨洁 ;

孙磊 .

中国专利 :CN117421196A ,2024-01-19

[10]

存储设备的性能测试方法及装置、电子设备和存储介质 [P].

马亚新 ;

任敬路 .

中国专利 :CN120564815A ,2025-08-29

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