性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211117801.7

申请日：

2022-09-14

公开(公告)号：

CN117743111A

公开(公告)日：

2024-03-22

发明(设计)人：

金玉玮

申请人：

北京金山云网络技术有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区西二旗中路33号院4号楼6层006号

IPC主分类号：

G06F11/34

IPC分类号：

代理机构：

北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662

代理人：

李曼

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-04-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/34申请日:20220914
2024-03-22	公开	公开

共 50 条

[1]

性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

董小瑞 ;

宋立辉 .

中国专利 :CN114924940B ,2025-11-11

[2]

性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

董小瑞 ;

宋立辉 .

中国专利 :CN114924940A ,2022-08-19

[3]

云主机性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

龙枝 .

中国专利 :CN120670256A ,2025-09-19

[4]

块存储性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王宜燕 ;

张小博 ;

赵晓鹏 ;

杨经纬 ;

尚啸 ;

杨林祥 ;

张宇峰 ;

李忠 .

中国专利 :CN114328049A ,2022-04-12

[5]

应用性能测试方法、装置、存储介质以及电子设备 [P].

张秋震 ;

臧影超 .

中国专利 :CN118708479A ,2024-09-27

[6]

性能测试方法及其装置、电子设备及存储介质 [P].

黄俊文 ;

谢林洁 ;

杨洁 ;

孙磊 .

中国专利 :CN117421196A ,2024-01-19

[7]

器件性能测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

梁赛嫦 ;

吴佳蒙 ;

郭依腾 ;

曾丹 .

中国专利 :CN113740693A ,2021-12-03

[8]

性能测试方法和装置、电子设备和存储介质 [P].

李博 .

中国专利 :CN120144437A ,2025-06-13

[9]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何品德 .

中国专利 :CN112612686A ,2021-04-06

[10]

性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

杨欢 ;

钱嘉林 .

中国专利 :CN117785592A ,2024-03-29

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