一种用于X荧光分析的粉末制样方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201611108746.X
申请日
2016-12-06
公开(公告)号
CN106501047A
公开(公告)日
2017-03-15
发明(设计)人
钱庆长 李长春 谢鹏
申请人
申请人地址
244100 安徽省铜陵市有色循环经济工业园金冠铜业分公司
IPC主分类号
G01N128
IPC分类号
G01N136 G01N23223
代理机构
合肥诚兴知识产权代理有限公司 34109
代理人
汤茂盛
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
一种X荧光分析粉末样品压样保护装置 [P]. 
范英戬 ;
杨杨 ;
王志峰 ;
张建安 ;
张鹏 .
中国专利 :CN204536071U ,2015-08-05
[2]
一种用于低温荧光测试的粉末样品制样方法 [P]. 
郭鹏慧 ;
郭烈锦 .
中国专利 :CN110231318A ,2019-09-13
[3]
X荧光分析用样盒 [P]. 
席斌 ;
王旭 ;
董俊强 ;
李世超 ;
周远祥 ;
张雷 .
中国专利 :CN309654397S ,2025-12-05
[4]
X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备 [P]. 
张环月 ;
权北北 ;
刘向辉 ;
邹龙江 ;
季首华 .
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[5]
X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备 [P]. 
王清亚 ;
李福生 ;
徐木强 ;
张丽娇 ;
张焱 ;
汤彬 ;
黎安琪 ;
裴晨扬 ;
闫博 ;
陈帮林 .
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[6]
X射线荧光光谱微量粉末样品的制样设备 [P]. 
张环月 ;
权北北 ;
刘向辉 ;
邹龙江 ;
季首华 .
中国专利 :CN206696208U ,2017-12-01
[7]
在线X荧光分析自动制样送测系统 [P]. 
庹先国 ;
任家富 ;
陶永莉 ;
穆克亮 ;
杨剑波 .
中国专利 :CN1793873B ,2006-06-28
[8]
荧光X射线分析方法和荧光X射线分析装置 [P]. 
泉山优树 .
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[9]
荧光X射线分析方法及荧光X射线分析装置 [P]. 
寺下卫作 .
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[10]
一种用于手持荧光分析仪的快速制样装置 [P]. 
郭平辉 ;
兰学辉 ;
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