自测试集成电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201480025281.4

申请日：

2014-03-07

公开(公告)号：

CN105190337A

公开(公告)日：

2015-12-23

发明(设计)人：

T·尼古因

申请人：

申请人地址：

美国加利福尼亚州

IPC主分类号：

G01R313187

IPC分类号：

G01R313185 G01R31319 G06F1127

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

徐金国;钟强

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-01-20	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101643348185 IPC(主分类):G01R 31/3187 专利申请号:2014800252814 申请日:20140307
2015-12-23	公开	公开
2017-03-08	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路自测试结构 [P].

马塞尔·佩尔戈姆 ;

亨德里克斯·J·M·维恩德里克 .

中国专利 :CN101065680B ,2007-10-31

[2]

有自测试能力的集成电路装置和对集成电路自测试的方法 [P].

亚辛·珐基 ;

德乔德·泽格瑞克 ;

埃里克·德梅 ;

卢卡·普鲁提诺 ;

玛西亚·萨皮恩扎 .

中国专利 :CN108072827B ,2018-05-25

[3]

自测试电路和集成电路IC设备 [P].

N·埃里科 ;

A·坎诺内 ;

E·费拉拉 ;

L·潘达礼 .

:CN222232882U ,2024-12-24

[4]

集成电路、集成电路自测试方法和包括该集成电路的光盘设备 [P].

山川秀之 ;

立泽之康 ;

森崇之 ;

南乡隆裕 .

中国专利 :CN101119116B ,2008-02-06

[5]

一种集成电路自测试治具 [P].

吴溢峰 .

中国专利 :CN214953624U ,2021-11-30

[6]

集成电路内建自测试所需测试向量的生成电路及方法 [P].

涂吉 ;

王子龙 ;

李立健 .

中国专利 :CN104122497A ,2014-10-29

[7]

内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P].

古城 ;

王晓阳 ;

何亚军 .

中国专利 :CN117524287A ,2024-02-06

[8]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

中国专利 :CN113049129A ,2021-06-29

[9]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

韩国专利 :CN120385434A ,2025-07-29

[10]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

韩国专利 :CN113049129B ,2025-05-16

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