内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510665719.5

申请日：

2020-09-29

公开(公告)号：

CN120385434A

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

申浚熙金柱成李龙珍崔炳注金光镐金赏镐

申请人：

三星电子株式会社

申请人地址：

韩国

IPC主分类号：

G01K7/01

IPC分类号：

G01K15/00

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

周祺;李敬文

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-29	公开	公开
2025-08-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01K 7/01申请日:20200929

共 50 条

[1]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

中国专利 :CN113049129A ,2021-06-29

[2]

内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P].

申浚熙 ;

金柱成 ;

李龙珍 ;

崔炳注 ;

金光镐 ;

金赏镐 .

韩国专利 :CN113049129B ,2025-05-16

[3]

内置自测试电路及包括该内置自测试电路的片上系统 [P].

金世基 ;

南炫硕 ;

野见山贵弘 .

韩国专利 :CN120233212A ,2025-07-01

[4]

内置自测试电路和相关方法 [P].

J·范欧维尔 .

美国专利 :CN113454472B ,2024-05-14

[5]

内置自测试电路和相关方法 [P].

J·范欧维尔 .

中国专利 :CN113454472A ,2021-09-28

[6]

用于测量时钟数据恢复性能的内置自测试电路以及包括该内置自测试电路的片上系统 [P].

宋镐彬 ;

李柱允 ;

金支英 ;

朴宰贤 ;

李受恩 ;

黄寅植 .

韩国专利 :CN118606263A ,2024-09-06

[7]

自测试集成电路 [P].

T·尼古因 .

中国专利 :CN105190337A ,2015-12-23

[8]

内置自测试功能漏电保护电路及其检测方法 [P].

刘军 ;

宋夏冰 .

中国专利 :CN108736438A ,2018-11-02

[9]

安全内置自测试（BIST） [P].

S·高希 .

美国专利 :CN120727067A ,2025-09-30

[10]

冗余模拟内置自测试 [P].

T·P·杜里埃 .

美国专利 :CN118511162A ,2024-08-16

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