学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
安全内置自测试(BIST)
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510374168.7
申请日
:
2025-03-27
公开(公告)号
:
CN120727067A
公开(公告)日
:
2025-09-30
发明(设计)人
:
S·高希
申请人
:
英特尔公司
申请人地址
:
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
:
G11C29/12
IPC分类号
:
G11C29/38
G11C29/14
代理机构
:
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
:
任曼怡;黄嵩泉
法律状态
:
公开
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-09-30
公开
公开
共 43 条
[1]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路
[P].
申浚熙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
申浚熙
;
金柱成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金柱成
;
李龙珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李龙珍
;
崔炳注
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
崔炳注
;
金光镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金光镐
;
金赏镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金赏镐
.
中国专利
:CN113049129A
,2021-06-29
[2]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路
[P].
申浚熙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
申浚熙
;
金柱成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金柱成
;
李龙珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李龙珍
;
崔炳注
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
崔炳注
;
金光镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金光镐
;
金赏镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金赏镐
.
韩国专利
:CN120385434A
,2025-07-29
[3]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路
[P].
申浚熙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
申浚熙
;
金柱成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金柱成
;
李龙珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李龙珍
;
崔炳注
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
崔炳注
;
金光镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金光镐
;
金赏镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金赏镐
.
韩国专利
:CN113049129B
,2025-05-16
[4]
冗余模拟内置自测试
[P].
T·P·杜里埃
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
德克萨斯仪器股份有限公司
德克萨斯仪器股份有限公司
T·P·杜里埃
.
美国专利
:CN118511162A
,2024-08-16
[5]
内置自测试电路及包括该内置自测试电路的片上系统
[P].
金世基
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金世基
;
南炫硕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
南炫硕
;
野见山贵弘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
野见山贵弘
.
韩国专利
:CN120233212A
,2025-07-01
[6]
低成本内置自测试中心测试
[P].
彼得·巴伦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
彼得·巴伦
;
元驰
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
元驰
.
中国专利
:CN110908849A
,2020-03-24
[7]
模拟内置自测试收发器
[P].
H·M·韦斯曼
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
H·M·韦斯曼
;
L·拉维夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
L·拉维夫
.
中国专利
:CN106063160B
,2016-10-26
[8]
内置自测试电路和相关方法
[P].
J·范欧维尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
德克萨斯仪器股份有限公司
德克萨斯仪器股份有限公司
J·范欧维尔
.
美国专利
:CN113454472B
,2024-05-14
[9]
内置自测试电路和相关方法
[P].
J·范欧维尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
J·范欧维尔
.
中国专利
:CN113454472A
,2021-09-28
[10]
闪速存储器的内置自测试
[P].
H·布林克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
H·布林克
;
D·弗林克
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
D·弗林克
;
O·琼森
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
O·琼森
.
中国专利
:CN101632131A
,2010-01-20
←
1
2
3
4
5
→