安全内置自测试(BIST)

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510374168.7
申请日
2025-03-27
公开(公告)号
CN120727067A
公开(公告)日
2025-09-30
发明(设计)人
S·高希
申请人
英特尔公司
申请人地址
美国加利福尼亚州
IPC主分类号
G11C29/12
IPC分类号
G11C29/38 G11C29/14
代理机构
上海专利商标事务所有限公司 31100
代理人
任曼怡;黄嵩泉
法律状态
公开
国省代码
引用
下载
收藏
共 43 条
[1]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P]. 
申浚熙 ;
金柱成 ;
李龙珍 ;
崔炳注 ;
金光镐 ;
金赏镐 .
中国专利 :CN113049129A ,2021-06-29
[2]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P]. 
申浚熙 ;
金柱成 ;
李龙珍 ;
崔炳注 ;
金光镐 ;
金赏镐 .
韩国专利 :CN120385434A ,2025-07-29
[3]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P]. 
申浚熙 ;
金柱成 ;
李龙珍 ;
崔炳注 ;
金光镐 ;
金赏镐 .
韩国专利 :CN113049129B ,2025-05-16
[4]
冗余模拟内置自测试 [P]. 
T·P·杜里埃 .
美国专利 :CN118511162A ,2024-08-16
[5]
内置自测试电路及包括该内置自测试电路的片上系统 [P]. 
金世基 ;
南炫硕 ;
野见山贵弘 .
韩国专利 :CN120233212A ,2025-07-01
[6]
低成本内置自测试中心测试 [P]. 
彼得·巴伦 ;
元驰 .
中国专利 :CN110908849A ,2020-03-24
[7]
模拟内置自测试收发器 [P]. 
H·M·韦斯曼 ;
L·拉维夫 .
中国专利 :CN106063160B ,2016-10-26
[8]
内置自测试电路和相关方法 [P]. 
J·范欧维尔 .
美国专利 :CN113454472B ,2024-05-14
[9]
内置自测试电路和相关方法 [P]. 
J·范欧维尔 .
中国专利 :CN113454472A ,2021-09-28
[10]
闪速存储器的内置自测试 [P]. 
H·布林克 ;
D·弗林克 ;
O·琼森 .
中国专利 :CN101632131A ,2010-01-20