低成本内置自测试中心测试

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910593405.3
申请日
2019-07-03
公开(公告)号
CN110908849A
公开(公告)日
2020-03-24
发明(设计)人
彼得·巴伦 元驰
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
G06F11263
IPC分类号
代理机构
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
宗晓斌
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[1]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P]. 
申浚熙 ;
金柱成 ;
李龙珍 ;
崔炳注 ;
金光镐 ;
金赏镐 .
中国专利 :CN113049129A ,2021-06-29
[2]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P]. 
申浚熙 ;
金柱成 ;
李龙珍 ;
崔炳注 ;
金光镐 ;
金赏镐 .
韩国专利 :CN120385434A ,2025-07-29
[3]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路 [P]. 
申浚熙 ;
金柱成 ;
李龙珍 ;
崔炳注 ;
金光镐 ;
金赏镐 .
韩国专利 :CN113049129B ,2025-05-16
[4]
安全内置自测试(BIST) [P]. 
S·高希 .
美国专利 :CN120727067A ,2025-09-30
[5]
冗余模拟内置自测试 [P]. 
T·P·杜里埃 .
美国专利 :CN118511162A ,2024-08-16
[6]
内置自测试电路及包括该内置自测试电路的片上系统 [P]. 
金世基 ;
南炫硕 ;
野见山贵弘 .
韩国专利 :CN120233212A ,2025-07-01
[7]
模拟内置自测试收发器 [P]. 
H·M·韦斯曼 ;
L·拉维夫 .
中国专利 :CN106063160B ,2016-10-26
[8]
内置自测试电路和相关方法 [P]. 
J·范欧维尔 .
美国专利 :CN113454472B ,2024-05-14
[9]
内置自测试电路和相关方法 [P]. 
J·范欧维尔 .
中国专利 :CN113454472A ,2021-09-28
[10]
内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法 [P]. 
古城 ;
王晓阳 ;
何亚军 .
中国专利 :CN117524287A ,2024-02-06