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低成本内置自测试中心测试
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910593405.3
申请日
:
2019-07-03
公开(公告)号
:
CN110908849A
公开(公告)日
:
2020-03-24
发明(设计)人
:
彼得·巴伦
元驰
申请人
:
申请人地址
:
日本东京都
IPC主分类号
:
G06F11263
IPC分类号
:
代理机构
:
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258
代理人
:
宗晓斌
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-04-17
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/263 申请日:20190703
2020-03-24
公开
公开
共 50 条
[1]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路
[P].
申浚熙
论文数:
0
引用数:
0
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0
申浚熙
;
金柱成
论文数:
0
引用数:
0
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0
金柱成
;
李龙珍
论文数:
0
引用数:
0
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0
李龙珍
;
崔炳注
论文数:
0
引用数:
0
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0
崔炳注
;
金光镐
论文数:
0
引用数:
0
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0
金光镐
;
金赏镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
金赏镐
.
中国专利
:CN113049129A
,2021-06-29
[2]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路
[P].
申浚熙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
申浚熙
;
金柱成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金柱成
;
李龙珍
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李龙珍
;
崔炳注
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
崔炳注
;
金光镐
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金光镐
;
金赏镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金赏镐
.
韩国专利
:CN120385434A
,2025-07-29
[3]
内置自测试电路和包括内置自测试电路的温度测量电路
[P].
申浚熙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
申浚熙
;
金柱成
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金柱成
;
李龙珍
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李龙珍
;
崔炳注
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
崔炳注
;
金光镐
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金光镐
;
金赏镐
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金赏镐
.
韩国专利
:CN113049129B
,2025-05-16
[4]
安全内置自测试(BIST)
[P].
S·高希
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
英特尔公司
英特尔公司
S·高希
.
美国专利
:CN120727067A
,2025-09-30
[5]
冗余模拟内置自测试
[P].
T·P·杜里埃
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
德克萨斯仪器股份有限公司
德克萨斯仪器股份有限公司
T·P·杜里埃
.
美国专利
:CN118511162A
,2024-08-16
[6]
内置自测试电路及包括该内置自测试电路的片上系统
[P].
金世基
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金世基
;
南炫硕
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
南炫硕
;
野见山贵弘
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
野见山贵弘
.
韩国专利
:CN120233212A
,2025-07-01
[7]
模拟内置自测试收发器
[P].
H·M·韦斯曼
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
H·M·韦斯曼
;
L·拉维夫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
L·拉维夫
.
中国专利
:CN106063160B
,2016-10-26
[8]
内置自测试电路和相关方法
[P].
J·范欧维尔
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
德克萨斯仪器股份有限公司
德克萨斯仪器股份有限公司
J·范欧维尔
.
美国专利
:CN113454472B
,2024-05-14
[9]
内置自测试电路和相关方法
[P].
J·范欧维尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
J·范欧维尔
.
中国专利
:CN113454472A
,2021-09-28
[10]
内存芯片自测试电路和内存芯片自测试方法
[P].
古城
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
合肥奎芯集成电路设计有限公司
合肥奎芯集成电路设计有限公司
古城
;
王晓阳
论文数:
0
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0
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机构:
合肥奎芯集成电路设计有限公司
合肥奎芯集成电路设计有限公司
王晓阳
;
何亚军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
合肥奎芯集成电路设计有限公司
合肥奎芯集成电路设计有限公司
何亚军
.
中国专利
:CN117524287A
,2024-02-06
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