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一种无接触高效晶圆精确测量装置
被引:0
申请号
:
CN202211149907.5
申请日
:
2022-09-21
公开(公告)号
:
CN115621188A
公开(公告)日
:
2023-01-17
发明(设计)人
:
许军
高倩妹
汪亮
申请人
:
申请人地址
:
239064 安徽省滁州市琅琊经济开发区南京路100号
IPC主分类号
:
H01L21683
IPC分类号
:
H01L2166
G01B1106
代理机构
:
北京天盾知识产权代理有限公司 11421
代理人
:
肖小龙
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-01-17
公开
公开
2023-02-10
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/683 申请日:20220921
共 50 条
[1]
一种晶圆加工用精确测量装置
[P].
许军
论文数:
0
引用数:
0
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0
许军
.
中国专利
:CN115662912A
,2023-01-31
[2]
一种双光路晶圆位移测量装置
[P].
车志东
论文数:
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0
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机构:
南京科兴半导体检测设备有限公司
南京科兴半导体检测设备有限公司
车志东
;
陈龙
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
南京科兴半导体检测设备有限公司
南京科兴半导体检测设备有限公司
陈龙
.
中国专利
:CN119826705A
,2025-04-15
[3]
一种轮辋圆度测量装置
[P].
谷达财
论文数:
0
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谷达财
;
何佟
论文数:
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何佟
;
谌登伟
论文数:
0
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0
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谌登伟
.
中国专利
:CN216348309U
,2022-04-19
[4]
一种无接触晶圆打标装置
[P].
连坤
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连坤
;
孙丙瑞
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孙丙瑞
;
王有贵
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王有贵
;
李道玉
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0
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李道玉
;
郭辉辉
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郭辉辉
;
刘龙玉
论文数:
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0
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0
刘龙玉
.
中国专利
:CN216413023U
,2022-04-29
[5]
测量装置及晶圆测量系统
[P].
朱亮
论文数:
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机构:
浙江晶盛机电股份有限公司
浙江晶盛机电股份有限公司
朱亮
;
李阳健
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机构:
浙江晶盛机电股份有限公司
浙江晶盛机电股份有限公司
李阳健
;
骆万钞
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机构:
浙江晶盛机电股份有限公司
浙江晶盛机电股份有限公司
骆万钞
;
贺军杰
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机构:
浙江晶盛机电股份有限公司
浙江晶盛机电股份有限公司
贺军杰
;
张涛
论文数:
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机构:
浙江晶盛机电股份有限公司
浙江晶盛机电股份有限公司
张涛
.
中国专利
:CN220553406U
,2024-03-01
[6]
一种晶圆包装后晶圆间距测量装置
[P].
周明勇
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周明勇
;
王潞
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王潞
;
袁忠奎
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袁忠奎
;
陈康
论文数:
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0
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0
陈康
.
中国专利
:CN216283287U
,2022-04-12
[7]
一种晶圆测量装置
[P].
贺东葛
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0
贺东葛
;
衣忠波
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0
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衣忠波
;
张景瑞
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张景瑞
;
张敏杰
论文数:
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张敏杰
;
刘宇光
论文数:
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0
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0
刘宇光
.
中国专利
:CN105575841A
,2016-05-11
[8]
一种晶圆测量装置
[P].
何海洋
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0
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0
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0
何海洋
;
胡健峰
论文数:
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胡健峰
;
彭强
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0
彭强
.
中国专利
:CN210909539U
,2020-07-03
[9]
无接触式无腊晶圆下片机
[P].
李健乐
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0
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
李健乐
;
张丰
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
张丰
;
张淳
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
张淳
;
李伦
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
李伦
;
曹会倩
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
曹会倩
;
王彦君
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
王彦君
;
孙晨光
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
孙晨光
;
陈健华
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机构:
中环领先半导体科技股份有限公司
中环领先半导体科技股份有限公司
陈健华
.
中国专利
:CN113903693B
,2025-04-11
[10]
无接触式无腊晶圆下片机
[P].
李健乐
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李健乐
;
张丰
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张丰
;
张淳
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张淳
;
李伦
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李伦
;
曹会倩
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曹会倩
;
王彦君
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王彦君
;
孙晨光
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孙晨光
;
陈健华
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陈健华
.
中国专利
:CN113903693A
,2022-01-07
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