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X射线管和X射线分析设备
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN200810145529.7
申请日：
2008-07-28
公开(公告)号：
CN101355002A
公开(公告)日：
2009-01-28
发明(设计)人：
的场吉毅
一宫丰
申请人：
申请人地址：
日本千叶县千叶市
IPC主分类号：
H01J3500
IPC分类号：
G01N23223
代理机构：
中国专利代理(香港)有限公司
代理人：
柯广华;刘宗杰
法律状态：
专利权的终止
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2018-08-17 | 专利权的终止 | 未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01J 35/00 申请日:20080728 授权公告日:20120627 终止日期:20170728 |
| 2012-06-27 | 授权 | 授权 |
| 2009-01-28 | 公开 | 公开 |
| 2014-08-06 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 | 专利权人的姓名或者名称、地址的变更 号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101703676601 IPC(主分类):H01J 35/00 专利号:ZL2008101455297 变更事项:专利权人 变更前:精工电子纳米科技有限公司 变更后:日本株式会社日立高新技术科学 变更事项:地址 变更前:日本千叶县千叶市 变更后:日本东京都 |
| 2010-08-18 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101004832184 IPC(主分类):H01J 35/00 专利申请号:2008101455297 申请日:20080728 |