X射线管和X射线分析装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810009401.8

申请日：

2008-01-30

公开(公告)号：

CN101236876A

公开(公告)日：

2008-08-06

发明(设计)人：

的场吉毅

申请人：

申请人地址：

日本千叶县千叶市

IPC主分类号：

H01J3500

IPC分类号：

H01J3100 G01N23223

代理机构：

中国专利代理(香港)有限公司

代理人：

王岳;刘宗杰

法律状态：

授权

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-05-09	授权	授权
2019-01-15	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01J 35/00 申请日:20080130 授权公告日:20120509 终止日期:20180130
2014-08-06	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更号牌文件类型代码:1602 号牌文件序号:101703676696 IPC(主分类):H01J 35/00 专利号:ZL2008100094018 变更事项:专利权人变更前:精工电子纳米科技有限公司变更后:日本株式会社日立高新技术科学变更事项:地址变更前:日本千叶县千叶市变更后:日本东京都
2010-02-10	实质审查的生效	实质审查的生效
2008-08-06	公开	公开

共 50 条

[1]

X射线管和X射线分析设备 [P].

的场吉毅 ;

一宫丰 .

中国专利 :CN101355003A ,2009-01-28

[2]

X射线管和X射线分析设备 [P].

的场吉毅 ;

一宫丰 .

中国专利 :CN101355002A ,2009-01-28

[3]

X射线管和X射线分析系统 [P].

哈利·伯克霍夫 ;

彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼 ;

格特·范道森 .

:CN111564350B ,2024-05-24

[4]

X射线管和X射线分析系统 [P].

哈利·伯克霍夫 ;

彼得罗内拉·埃米伦蒂安娜·赫格曼 ;

格特·范道森 .

中国专利 :CN111564350A ,2020-08-21

[5]

X射线管和X射线产生装置 [P].

铃木一隆 .

中国专利 :CN110582831A ,2019-12-17

[6]

X射线管和X射线产生装置 [P].

铃木一隆 .

中国专利 :CN110574137B ,2019-12-13

[7]

X射线产生装置和X射线分析装置 [P].

表和彦 ;

刑部刚 ;

小泽哲也 ;

姜立才 ;

鲍里斯·韦尔曼 .

中国专利 :CN110223797A ,2019-09-10

[8]

X射线管、X射线装置和乳房X射线摄影装置 [P].

安雅·弗里泰茨勒 ;

约尔格·弗罗伊登贝格尔 ;

马库斯·拉迪克 ;

彼得·盖特纳 .

中国专利 :CN112071730A ,2020-12-11

[9]

X射线管、X射线装置和乳房X射线摄影装置 [P].

安雅·弗里泰茨勒 ;

约尔格·弗罗伊登贝格尔 ;

马库斯·拉迪克 ;

彼得·盖特纳 .

德国专利 :CN112071730B ,2024-04-30

[10]

X射线分析装置和X射线分析方法 [P].

唐·萨基特 .

中国专利 :CN102854209B ,2013-01-02

← 1 2 3 4 5 →