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X射线分析装置和X射线分析方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN201210190016.4
申请日：
2012-06-08
公开(公告)号：
CN102854209B
公开(公告)日：
2013-01-02
发明(设计)人：
唐·萨基特
申请人：
申请人地址：
美国马萨诸塞州
IPC主分类号：
G01N23223
IPC分类号：
代理机构：
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：
刘新宇
法律状态：
授权
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2014-06-25 | 授权 | 授权 |
| 2013-01-02 | 公开 | 公开 |
| 2013-02-20 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101395929979 IPC(主分类):G01N 23/223 专利申请号:2012101900164 申请日:20120608 |