测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200820176287.3

申请日：

2008-11-20

公开(公告)号：

CN201369042Y

公开(公告)日：

2009-12-23

发明(设计)人：

崔磊吕昭融

申请人：

申请人地址：

215011江苏省苏州市苏州金枫路233号

IPC主分类号：

G06F1100

IPC分类号：

G06F11267 G01R3102

代理机构：

北京纪凯知识产权代理有限公司

代理人：

赵蓉民

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-01-07	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101594928418 IPC(主分类):G06F 11/00 专利号:ZL2008201762873 申请日:20081120 授权公告日:20091223 终止日期:20131120
2009-12-23	授权	授权

共 50 条

[1]

测试装置 [P].

邓站兵 ;

苗永福 .

中国专利 :CN207123597U ,2018-03-20

[2]

测试装置 [P].

张锦 ;

黄官宇 .

中国专利 :CN2890925Y ,2007-04-18

[3]

测试装置 [P].

王文才 ;

徐林浩 ;

刘继忠 .

中国专利 :CN218273168U ,2023-01-10

[4]

芯片测试装置 [P].

吴骁 .

中国专利 :CN220730364U ,2024-04-05

[5]

功能测试装置 [P].

王武娟 ;

陈翔 .

中国专利 :CN221465923U ,2024-08-02

[6]

转接测试装置 [P].

詹益新 ;

李光华 .

中国专利 :CN2550844Y ,2003-05-14

[7]

芯片测试装置 [P].

沈琦崧 ;

余玉龙 .

中国专利 :CN206020601U ,2017-03-15

[8]

防水测试装置 [P].

苏凯程 .

中国专利 :CN220982560U ,2024-05-17

[9]

EMMC测试装置 [P].

孙日欣 ;

李振华 ;

王天益 .

中国专利 :CN205334968U ,2016-06-22

[10]

芯片测试装置 [P].

王宸星 ;

刘婧 ;

朱月月 ;

朱伟强 ;

韩婷婷 ;

田密 ;

李志坚 .

中国专利 :CN220983345U ,2024-05-17

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