芯片可靠性测试用老化设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201910937449.3

申请日：

2019-09-30

公开(公告)号：

CN112578149B

公开(公告)日：

2021-03-30

发明(设计)人：

罗跃浩黄建军胡海洋

申请人：

申请人地址：

215011 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司 32103

代理人：

王健

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/04 申请日:20190930
2022-12-27	授权	授权
2021-03-30	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片的可靠性测试系统 [P].

于东明 ;

李超伟 ;

郜其鑫 ;

张学磊 ;

钟明琛 ;

陈燕宁 .

中国专利 :CN110501632A ,2019-11-26

[2]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851B ,2024-09-20

[3]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851A ,2021-05-18

[4]

可靠性测试系统 [P].

李康 ;

陈宏领 ;

龚斌 ;

黄雪青 ;

张宇飞 .

中国专利 :CN104280646A ,2015-01-14

[5]

设备可靠性测试系统 [P].

张学莹 ;

林晓阳 ;

宋键镗 .

中国专利 :CN120334826A ,2025-07-18

[6]

老化测试用测试板 [P].

文长植 .

韩国专利 :CN120595066A ,2025-09-05

[7]

激光芯片用可靠性测试系统 [P].

徐鹏嵩 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

郭孝明 ;

王化发 ;

黄建军 .

中国专利 :CN111812482A ,2020-10-23

[8]

激光芯片用可靠性测试系统 [P].

徐鹏嵩 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

郭孝明 ;

王化发 ;

黄建军 .

中国专利 :CN209894923U ,2020-01-03

[9]

激光芯片用可靠性测试系统 [P].

徐鹏嵩 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

郭孝明 ;

王化发 ;

黄建军 .

中国专利 :CN111812482B ,2025-07-22

[10]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

邓仁辉 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

廉哲 .

中国专利 :CN114689910B ,2022-07-01

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