芯片可靠性测试装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011627029.4

申请日：

2020-12-31

公开(公告)号：

CN112816851A

公开(公告)日：

2021-05-18

发明(设计)人：

钟昊陈君良张栋郑雷

申请人：

申请人地址：

200233 上海市徐汇区虹漕路25-1号二层193室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

成丽杰

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-05-18	公开	公开
2021-06-04	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20201231

共 50 条

[1]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851B ,2024-09-20

[2]

芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法 [P].

董攀 ;

王延斌 .

中国专利 :CN118671552A ,2024-09-20

[3]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

马兰 ;

张军 ;

姚启龙 ;

李倩倩 .

中国专利 :CN119716460A ,2025-03-28

[4]

可靠性测试装置及可靠性测试方法 [P].

杨辉鹏 .

中国专利 :CN117935898A ,2024-04-26

[5]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

邓仁辉 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

廉哲 .

中国专利 :CN114689910B ,2022-07-01

[6]

芯片可靠性测试装置、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

张芮 ;

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118244085A ,2024-06-25

[7]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

崔超 ;

赵云 ;

肖勇 ;

王浩林 ;

林伟斌 ;

罗奕 .

中国专利 :CN114814554B ,2024-09-17

[8]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

崔超 ;

赵云 ;

肖勇 ;

王浩林 ;

林伟斌 ;

罗奕 .

中国专利 :CN114814554A ,2022-07-29

[9]

门扇可靠性测试装置 [P].

袁祺 .

中国专利 :CN208780440U ,2019-04-23

[10]

可靠性测试系统 [P].

李康 ;

陈宏领 ;

龚斌 ;

黄雪青 ;

张宇飞 .

中国专利 :CN104280646A ,2015-01-14

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