一种芯片可靠性测试装置

被引：0

申请号：

CN202210570058.4

申请日：

2022-05-24

公开(公告)号：

CN114814554A

公开(公告)日：

2022-07-29

发明(设计)人：

崔超赵云肖勇王浩林林伟斌罗奕

申请人：

申请人地址：

510663 广东省广州市萝岗区科学城科翔路11号J1栋3、4、5楼及J3栋3楼

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104

代理机构：

北京集佳知识产权代理有限公司 11227

代理人：

杨小红

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-07-29	公开	公开
2022-08-16	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20220524

共 50 条

[1]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

崔超 ;

赵云 ;

肖勇 ;

王浩林 ;

林伟斌 ;

罗奕 .

中国专利 :CN114814554B ,2024-09-17

[2]

芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法 [P].

董攀 ;

王延斌 .

中国专利 :CN118671552A ,2024-09-20

[3]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

邓仁辉 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

廉哲 .

中国专利 :CN114689910B ,2022-07-01

[4]

一种BMS芯片可靠性测试装置 [P].

于洪雨 ;

于章勇 ;

黄文龙 .

中国专利 :CN223538898U ,2025-11-11

[5]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

马兰 ;

张军 ;

姚启龙 ;

李倩倩 .

中国专利 :CN119716460A ,2025-03-28

[6]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851B ,2024-09-20

[7]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851A ,2021-05-18

[8]

一种芯片可靠性测试装置的测试方法和系统 [P].

刘智力 ;

黄凯 ;

冯炯 ;

袁智巧 ;

胡立超 .

中国专利 :CN115617592A ,2023-01-17

[9]

一种车载芯片可靠性失效性测试装置 [P].

刘笑涡 .

中国专利 :CN218181031U ,2022-12-30

[10]

一种车载芯片可靠性实效性测试装置 [P].

胥亚军 ;

夏泳 .

中国专利 :CN222689874U ,2025-03-28

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