芯片可靠性测试装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311265495.6

申请日：

2023-09-27

公开(公告)号：

CN119716460A

公开(公告)日：

2025-03-28

发明(设计)人：

马兰张军姚启龙李倩倩

申请人：

苏州福瑞思信息科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市中国（江苏）自由贸易试验区苏州片区苏州工业园区东长路88号N1幢12层1202、1203室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

代理机构：

上海思捷知识产权代理有限公司 31295

代理人：

汪春艳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

江苏省苏州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-15	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20230927
2025-03-28	公开	公开

共 50 条

[1]

芯片可靠性测试装置及芯片可靠性测试方法 [P].

董攀 ;

王延斌 .

中国专利 :CN118671552A ,2024-09-20

[2]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851B ,2024-09-20

[3]

芯片可靠性测试装置及方法 [P].

钟昊 ;

陈君良 ;

张栋 ;

郑雷 .

中国专利 :CN112816851A ,2021-05-18

[4]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

邓仁辉 ;

罗跃浩 ;

赵山 ;

廉哲 .

中国专利 :CN114689910B ,2022-07-01

[5]

门扇可靠性测试装置 [P].

袁祺 .

中国专利 :CN208780440U ,2019-04-23

[6]

芯片可靠性测试装置、测试方法、存储介质及电子设备 [P].

张芮 ;

徐炯 ;

何文龙 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118244085A ,2024-06-25

[7]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

崔超 ;

赵云 ;

肖勇 ;

王浩林 ;

林伟斌 ;

罗奕 .

中国专利 :CN114814554B ,2024-09-17

[8]

一种芯片可靠性测试装置 [P].

崔超 ;

赵云 ;

肖勇 ;

王浩林 ;

林伟斌 ;

罗奕 .

中国专利 :CN114814554A ,2022-07-29

[9]

冰箱可靠性测试装置 [P].

李子胜 ;

杨凯 ;

罗廷顺 ;

文成全 .

中国专利 :CN221898530U ,2024-10-25

[10]

可靠性测试装置 [P].

颜菁 ;

聂贻孝 ;

闵旺 .

中国专利 :CN308518697S ,2024-03-19

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